[实用新型]一种探棒测试组件

说明书

本实用新型公开了一种探棒测试组件，该探棒测试组件包括探棒组件和导线，所述探棒组件包括前探针座和后探针座，所述前探针座与后探针座呈一直线首尾相接，所述前探针座和后探针座外套设有外套筒，所述前探针座内设置有前探针，所述前探针的一端露出所述前探针座外，所述后探针座内设置有连接探针，所述连接探针的一端与前探针的另一端固定连接，所述连接探针的另一端与所述导线电连接，所述前探针座和后探针座内均为真空。本实用新型的探棒测试组件用于对一些电子产品的导电性能进行测试，使用方便。

技术领域

本实用新型涉及一种探棒测试组件。

背景技术

一些电子产品，在生产中需要进行电性能测试，保证这些电子产品的导电性能合格，比如一些电脑配件。对于成批量的电子产品，为了提高测试效率，一般需要使用专用的测试工具来进行检测。

实用新型内容

本实用新型主要解决的技术问题是提供一种探棒测试组件，该探棒测试组件用于对一些电子产品的导电性能进行测试，使用方便。

为解决上述技术问题，本实用新型采用的一个技术方案是：提供一种探棒测试组件，其包括探棒组件和导线，所述探棒组件包括前探针座和后探针座，所述前探针座与后探针座呈一直线首尾相接，所述前探针座和后探针座外套设有外套筒，所述前探针座内设置有前探针，所述前探针的一端露出所述前探针座外，所述后探针座内设置有连接探针，所述连接探针的一端与前探针的另一端固定连接，所述连接探针的另一端与所述导线电连接，所述前探针座和后探针座内均为真空。

优选的，所述外套筒采用绝缘材料制作。

优选的，所述前探针座和后探针座分别有一部分露出所述外套筒外。

优选的，所述后探针座远离所述前探针座的一端设置有橡胶套。

优选的，所述外套筒靠近所述前探针座的一端设置有径向凸出的护手环。

优选的，所述后探针座分为两段，所述两段后探针座呈一直线首尾相接，所述两段后探针座的连接处设置有连接导柱，通过所述连接导柱将所述两段后探针座连接在一起。

优选的，所述导线的一端设置有电接头。

本实用新型的有益效果是：本实用新型的探棒测试组件用于对一些电子产品的导电性能进行测试，可以避免测试高电压时产生电火花，使用方便安全。

附图说明

为了更清楚地说明本实用新型实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本实用新型的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其它的附图，其中：

图1是本实用新型探棒测试组件的结构示意图；

图2是图1中探棒组件的放大剖视图。

附图中各部件的标记如下：1、前探针，2、前探针座，3、护手环，4、外套筒，5、后探针座，6、橡胶套，7、导线，8、电接头，9、连接探针，10、探棒组件，11、连接导柱。

具体实施方式

下面将对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本实用新型保护的范围。

本实用新型实施例：