[实用新型]一种探针模组

说明书

本实用新型公开一种探针模组，包括本体；位于本体底部的浮板以及位于浮板的背离本体一侧的探针组件；探针组件包括盖板；结合固定在盖板底面的包括有若干针槽的型芯；以及被限位件限位固定于针槽内的若干刀片针；浮板上包括有与刀片针电接触端对应的针孔，浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动，刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。本实用新型可在某一探针损坏时，针对探针组件进行整体更换。在更换探针组件时，作为探针模组一部分的浮板与本体之间的装配精度不受影响，不用进一步调整二者之间的精度，在提高了探针模组更换探针的工作效率的同时，增加了测试过程的稳定性。

技术领域

本实用新型涉及测试装置技术领域，更具体地，涉及一种探针模组。

背景技术

随着现代社会的快速发展，各式各样的电子产品进入到人们的生活中，人们对电子产品的质量要求也越来越高，从而在电子产品的生产过程中，每道工序都需要对半成品产品进行检测，目前通常采用测试设备与产品电连接进行测试，测试设备的连接件为金属探针，现有技术主要针对的是Pogo Pin(圆柱形针)，该结构形式的探针存在Pogo pin与液晶模组端的接触是点接触，易扎伤产品，Pogo pin的寿命偏低，本身电阻值大，测试信号不稳定等诸多弊端。目前扁平状的刀片针正逐步替代Pogo Pin(圆柱形针)被广泛应用，刀片针与液晶模组端的接触是线接触，接触面积大，寿命较Pogo pin高，本身电阻值小，测试信号更加稳定。

但受限于现有探针模组结构设计的缺陷，无法针对探针组件进行整体的更换，也就是说当在某一探针即刀片针针体损坏时，在拆掉盖板后，各配置在型芯内的刀片针针体均是单独个体，无法查找已损坏的针体或者对已损坏的针体进行更换，且由于探针组件中型芯通常被用于压住浮板以使之能够与本体固定，进而在跟换针体时配置有探针的型芯无法拆卸，进而只能将配置在针槽内的探针全部倒出，探针在取出时，如一个一个取出探针，工作繁琐，效率低，易对型芯造成不必要的摩擦损伤；如将所有探针全部整体倒出，各探针会全部散落开，为探针的更换带来不便。

实用新型内容

鉴于上述问题，本实用新型要解决的技术问题是提供一种易于方便更换探针的探针模组。

为解决上述技术问题，本实用新型采用下述技术方案：

一种探针模组，所述模组包括：

具有中空内腔的本体；

位于所述本体底部的浮板；以及

位于浮板的背离本体一侧的探针组件；

所述探针组件包括：

结合固定在所述本体顶部的盖板；

结合固定在所述盖板底面的位于中空内腔的包括有若干针槽的型芯；以及

位于中空内腔内与若干针槽一一对应且被限位件限位固定于针槽内的若干刀片针；

所述浮板上包括有与刀片针电接触端一一对应的若干针孔，所述浮板被配置为在刀片针延伸方向上可相对本体浮动，刀片针的电接触端可在浮板靠近本体的位置由针孔探出浮板的背离本体的一侧表面。

此外，优选地方案是，所述探针组件还包括有位于中空内腔内的型芯固定件，所述型芯固定件环套在所述型芯外，且与所述盖板结合固定；

所述型芯固定件包括有内收的台阶部，所述台阶部形成所述限位件。

此外，优选地方案是，所述刀片针上包括有与台阶部台面对应的限位边，通过台阶部台面与刀片针限位边的配合，所述刀片针被限位固定于型芯的针槽内。

此外，优选地方案是，所述浮板通过等高螺丝结合固定在所述本体的底面上，所述浮板与本体之间包括有弹性件，所述弹性件的作用力方向沿所述等高螺丝的轴向方向。