[实用新型]一种外齿轮M值和齿圈径向跳动的综合检具有效

专利信息
申请号: 201921948162.2 申请日: 2019-11-12
公开(公告)号: CN210773834U 公开(公告)日: 2020-06-16
发明(设计)人: 吴跃德;吴一刚;夏佳春 申请(专利权)人: 杭州萧山天辰机械有限公司
主分类号: G01B5/16 分类号: G01B5/16;G01B5/00
代理公司: 杭州惟越知识产权代理有限公司 33343 代理人: 武春亮
地址: 311200 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 齿轮 径向 跳动 综合
【说明书】:

本实用新型公开了一种外齿轮M值和齿圈径向跳动的综合检具,包括底座、测量组件一、测量组件二和齿轮定位组件,底座为直角三棱柱设置,底座的斜面上固定连接有底板,底板上端面的中部开设有T型凹槽,齿轮定位组件固定于底板的中部且测量组件一布置于齿轮定位组件的右侧,测量组件二布置于齿轮定位组件的左侧,测量组件一和测量组件二的下方均设置有固定底座,固定底座与T型凹槽呈滑动配合,本实用新型实现了在一台综合检具上可同时测量M值(即跨棒距)和齿圈径向跳动误差值。

技术领域

本实用新型涉及齿轮加工设备技术领域,特别涉及一种外齿轮M值和齿圈径向跳动的综合检具。

背景技术

公开号为CN205317187U的实用新型专利公开了一种齿轮外M值检具,该齿轮外M值检具包括基座,所述基座上由下到上依次安装有球形顶针、转动式测量台、球形测头,所述球形测头通过底座安装在基座上,所述底座上设有调节球形测头运动的手柄,所述球形测头的另一端设有表头。

该齿轮外M值检具,将传统固定的测量台改为转动式测量台,当球型测头接触到零件任意齿面时,转动测量台带动零件转动,使测头顺利滑动到槽底,与两齿面接触,不产生间隙;测量时既缓冲了测量力,避免零件出现冲击坑,也不会出现假值,提高M值测量的精确度。

但该齿轮外M值检具存在如下问题:首先远离球型测头的球型顶针是固定连接在底座上,不可调节,所以该齿轮外M值检具只能检测单一齿轮的外M值;其次当齿轮在该齿轮外M值检具中测量完M值后,还需要把齿轮从该齿轮外M值检具中取下并装在齿圈径向跳动检测器具中进行齿轮齿圈径向跳动误差的测量,这样需要将齿轮不断的安装和取下,其操作过程过于繁琐。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种外齿轮M值和齿圈径向跳动的综合检具,实现了在一台综合检具上可同时测量M值(即跨棒距)和齿圈径向跳动误差值。

本实用新型的上述技术目的是通过以下技术方案得以实现的:

一种外齿轮M值和齿圈径向跳动的综合检具,包括底座、测量组件一、测量组件二和齿轮定位组件,所述底座为直角三棱柱设置,所述底座的斜面上固定连接有底板,所述底板上端面的中部开设有T型凹槽,所述齿轮定位组件固定于所述底板的中部且所述测量组件一布置于所述齿轮定位组件的右侧,所述测量组件二布置于所述齿轮定位组件的左侧,所述测量组件一和测量组件二的下方均设置有固定底座,所述固定底座与所述T型凹槽呈滑动配合。

采用上述技术方案,在对齿轮的外M值进行检测时,将定位套取下,再选用合适的标准件,随后将标准件放置在齿轮定位组件上,随后推动固定底座在底板上移动,当固定底座移动到合适位置时,将固定底座固定在底板上,随后移动测量组件二,使测量组件二的测量端抵触在标准件上,在移动测量组件一,使测量组件一的测量部抵触在标准件上,此时可得到标准件外M值的检测数据,以该数据为对比值,对待检测齿轮检测时,将标准件取下,再次重复上述操作,即可得到待检测齿轮的数据,该数据和标准数据进行对比,即可知道待检测齿轮的M值,在对径向跳动误差进行检测时,将测量组件二的测量部离开待检测齿轮,将测量组件一抵触在齿轮的外齿上,通过测量组件一对待检测齿轮的外齿的齿槽进行逐一检测,将检测到的最大数值和最小数值进行求差,得到的差值即可知道径向跳动误差。

作为优选,所述固定底座包括伸缩测头座、螺杆和旋柄,所述伸缩测头座的内部设置有凸心轴,且所述凸心轴的两端分别与所述伸缩测头座的内壁呈转动配合,所述凸心轴的一端穿过所述伸缩测头座的一侧侧壁,所述凸心轴上外套固定有凸轮且所述凸心轴外露与所述伸缩测头座的一端与旋柄固定连接,所述测量组件一和测量组件二上均固定有推杆,所述螺杆设置于所述伸缩测头座一的内部,所述螺杆与所述伸缩测头座一的侧壁呈螺纹连接,所述螺杆外套固定有锥形块,所述螺杆上还外套有抬升块,所述抬升块的下端面设置有“T”形杆,所述抬升块上开设有与所述锥形块呈滑动配合的斜孔,所述“T”形杆的一端布置于所述T型凹槽内且所述“T”形杆与所述T型凹槽 呈滑动配合。

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