[实用新型]一种触摸屏老化测试系统

说明书

本实用新型涉及一种触摸屏老化测试系统，该系统包括IC芯片、供电接口和示波器，IC芯片包括串联连接的产品连接接口和功能测试接口，产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时与示波器连接，所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接，功能测试接口功能测试时和一测试设备连接。本实用新型设置产品连接接口和功能测试接口，将老化测试实验和功能化测试区分开，老化测试时，示波器连接在SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作，无需和测试设备进行连接，大大减少测试设备的消耗。

技术领域

本实用新型涉及老化测试技术领域，特别是涉及一种触摸屏老化测试系统。

背景技术

触摸屏（touch panel，简称TP）为透明产品，通电工作时能完成坐标报点。老化测试的过程为：在TP产品制作好后运行10天以上，辅以在高温高湿等环境条件，检测TP产品长时间运行是否功能稳定，该功能测试需要借助电脑，通过电脑软件显示来观察TP产品的功能情况。

现有的TP产品老化测试需要配备测试板连接到电脑的USB接口上，老化测试实验和功能化测试的过程都连接电脑，需要连续投入大量的电脑和测试板完成几百片的产品功能老化测试，电脑和测试板长时间工作产生损耗，使投入使用的测试费用特别高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种触摸屏老化测试系统，解决现有的触摸屏老化测试实验和功能化测试都需连接电脑导致测试费用过高的问题。

本实用新型提出一种触摸屏老化测试系统，包括供电接口和IC芯片，所述IC芯片包括通过导线串联连接的产品连接接口和功能测试接口，所述产品连接接口包括GND1端口、VCC1端口、SCL1端口、SDA1端口、INT1端口和RST1端口，所述GND1端口接地，所述VCC1端口连接所述供电接口，所述SCL1端口和SDA1端口用于老化测试时连接示波器；

所述功能测试接口包括GND2端口、VCC2端口、SCL2端口、SDA2端口、INT2端口和RST2端口，所述功能测试接口与所述产品连接接口的同类端口一一对应连接，所述功能测试接口用于功能测试时连接测试设备。

根据本实用新型提出的触摸屏老化测试系统，具有以下有益效果：本实用新型的触摸屏老化测试系统设置产品连接接口和功能测试接口，将老化测试实验和功能化测试区分开，进行老化测试实验时，示波器连接在SCL1端口和SDA1端口确认产品是否正常工作，无需和测试设备进行连接，当需要确认TP产品的具体功能，测试设备才与功能测试接口连接用于测试具体功能，上述设计节省了测试设备的工作时间及降低了其损耗，大大减少了测试费用。

另外，根据本实用新型提供的触摸屏老化测试系统，还可以具有如下附加的技术特征：

进一步地，所述IC芯片设有多个，多个所述IC芯片之间并联连接。

进一步地，所述SCL1端口和SDA1端口分别连接一上拉电阻，两个所述上拉电阻分别连接所述供电接口。

进一步地，所述测试设备为一电脑。

进一步地，所述功能测试接口上设有顶针，所述顶针顶压在所述功能测试接口上。

进一步地，所述顶针引出一I2C线路与一测试板相连，所述测试板与所述测试设备相连。

进一步地，所述供电接口包括GND3端口和VCC3端口，所述GND3端口与所述GND1端口连接，所述VCC3端口与所述VCC1端口连接。

本实用新型的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本实用新型的实践了解到。

附图说明