[实用新型]一种SEM-D模块高低温试验装置

说明书

本实用新型涉及高低温试验装置技术领域，且公开了一种SEM‑D模块高低温试验装置，包括保温箱，所述保温箱内部的左侧焊接有制冷箱，所述保温箱内部的右侧焊接有制热箱，所述制冷箱和制热箱的内部均设有放置结构，所述放置结构用于对SEM‑D模块进行放置，所述放置结构的上方设有动力结构，所述动力结构用于对放置结构进行移动；该一种SEM‑D模块高低温试验装置，通过保温箱、制冷箱、制热箱、放置结构、动力结构、制冷器和制热器的设置，使SEM‑D模块高低温试验装置，具备可以高温低温同时检测试验、且方便样品进行填入和拿取的优点，解决了现有的温度试验装置无法高温低温同时进行检测试验、且不方便样品填入和拿取的问题。

技术领域

本实用新型涉及高低温试验装置技术领域，具体为一种SEM-D模块高低温试验装置。

背景技术

SEM-D模块为实时计算控制模块，含1片PPC(P2020)和一片FPGA(K7)等计算控制资源，DDR3、FLASH、和DPRAM等存储资源，以及RapidIO、网络、CAN总线等接口资源。

SEM-D模块在生产完成后，需要对其进行多方面进行检测，例如对温度进行检测，在对SEM-D模块进行检测时，需要在高温和低温下对其进行检测，现有的温度试验装置虽然可以进行加热和制冷切换，但是其检测效率低下，当SEM-D模块需要检测的样品较多时，无法同时进行高温和低温进行检测，且SEM-D模块在放入装置或取出时，由于样品较多，需要人工长时间进行拿取，为此，我们提出了一种SEM-D模块高低温试验装置，以解决上述内容存在的问题。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种SEM-D模块高低温试验装置，具备可以高温低温同时检测试验、且方便样品进行填入和拿取的优点，解决了现有的温度试验装置无法高温低温同时进行检测试验、且不方便样品填入和拿取的问题。

为实现上述可以高温低温同时检测试验、且方便样品进行填入和拿取的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种SEM-D模块高低温试验装置，包括保温箱，所述保温箱内部的左侧焊接有制冷箱，所述保温箱内部的右侧焊接有制热箱，所述制冷箱和制热箱的内部均设有放置结构，所述放置结构用于对SEM-D模块进行放置，所述放置结构的上方设有动力结构，所述动力结构用于对放置结构进行移动，所述保温箱背面的左侧设有制冷器，所述制冷器用于对制冷箱进行制冷作业，所述保温箱背面的右侧栓接有制热器，所述制热器用于对制热箱进行加热作业。

优选的，所述放置结构包括滑槽，所述滑槽的数量为两个，所述滑槽开设于制冷箱和制热箱的内部，所述滑槽的内部滑动连接有支撑板，所述支撑板内部的两侧均焊接有放置框，两个支撑板之间焊接有支撑杆。

优选的，所述动力结构包括齿板，所述齿板的底部与支撑板的顶部焊接，所述齿板的顶部啮合有齿轮，所述齿轮远离支撑板的一侧固定连接有电机，所述电机栓接于保温箱的表面。

优选的，所述滑槽的长度要长于支撑板和齿板的长度，所述齿板的长度要小于支撑板的长度。

优选的，所述制冷箱和制热箱之间留有间隙，该间隙的内部为真空。

优选的，所述保温箱正面的两侧均铰接有箱门，所述箱门的背面与支撑板的正面焊接。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种SEM-D模块高低温试验装置，具备以下有益效果：

该一种SEM-D模块高低温试验装置，通过保温箱、制冷箱、制热箱、放置结构、动力结构、制冷器和制热器的设置，使SEM-D模块高低温试验装置，具备可以高温低温同时检测试验、且方便样品进行填入和拿取的优点，解决了现有的温度试验装置无法高温低温同时进行检测试验、且不方便样品填入和拿取的问题。

附图说明

图1为本实用新型结构主视示意图；

图2为本实用新型结构剖视示意图；