[实用新型]一种SEM-D模块高温检测装置

说明书

本实用新型涉及模块高温检测技术领域，且公开了一种SEM‑D模块高温检测装置，包括箱体，所述箱体的顶部栓接有电机，所述电机的输出轴固定安装有旋转杆，所述旋转杆的底部延伸至箱体的内部并焊接有支撑板，所述箱体的内部开设有环形槽，所述支撑板的表面与环形槽的内部滑动连接，所述支撑板的顶部设有限位结构；本该一种SEM‑D模块高温检测装置，通过箱体、电机、旋转杆、支撑板、环形槽、限位结构、加热结构和控制器的设置，使SEM‑D模块高温检测装置，具备升温速度快、且内部升温均匀的优点，提升模块高温检测装置检测结果的准确性，同时解决了现有的模块高温检测装置对模块升温速度慢、且升温不均匀的问题。

技术领域

本实用新型涉及模块高温检测技术领域，具体为一种SEM-D模块高温检测装置。

背景技术

SEM-D模块为实时计算控制模块，含1片PPC(P2020)和一片FPGA(K7)等计算控制资源，DDR3、FLASH、和DPRAM等存储资源，以及RapidIO、网络、CAN总线等接口资源。

模块在进行生产之后，需要对其进行性能检测，检测的方面有很多，高温检测就是其中的一项，现有的模块高温检测装置结构简单，无法对模块进行均匀的升温，使模块在进行高温检测时，其各部位无法与热量进行均匀接触，导致模块内部升温不均，不利于进行检测，且模块在进行检测时，与热量接触面积无法得到最大化，降低模块的升温速度，为此，我们提出了一种SEM-D模块高温检测装置，以解决上述内容存在的问题。

实用新型内容

针对现有技术的不足，本实用新型提供了一种SEM-D模块高温检测装置，具备升温速度快、且内部升温均匀的优点，解决了现有的模块高温检测装置对模块升温速度慢、且升温不均匀的问题。

为实现上述升温速度快、且内部升温均匀的目的，本实用新型提供如下技术方案：一种SEM-D模块高温检测装置，包括箱体，所述箱体的顶部栓接有电机，所述电机的输出轴固定安装有旋转杆，所述旋转杆的底部延伸至箱体的内部并焊接有支撑板，所述箱体的内部开设有环形槽，所述支撑板的表面与环形槽的内部滑动连接，所述支撑板的顶部设有限位结构，所述限位结构用于对模块进行限位固定，所述箱体内部的两侧均设有加热结构，所述加热结构用于对箱体内部进行加热，所述箱体的正面安装有控制器，所述控制器用于对电机和加热结构进行控制。

优选的，所述限位结构包括底板，所述底板的底部与支撑板的顶部相接触，所述底板套设于旋转杆的表面，所述底板的顶部焊接有套管，所述套管的顶部焊接有顶板，所述顶板套设于旋转杆的表面，所述顶板内部的四周均螺纹连接有螺纹杆，所述螺纹杆的底部焊接有压板。

优选的，所述螺纹杆的顶部固定安装有绝热套，所述绝热套的直径要大于螺纹杆的直径。

优选的，所述底板的底部与支撑板的顶部均为粗糙面，所述压板的底部为光滑面。

优选的，所述加热结构包括固定架，所述固定架栓接于箱体的内部，所述固定架的内部安装有加热线圈。

优选的，所述箱体的正面铰接有箱门，所述箱体的右侧电性连接有插头。

与现有技术相比，本实用新型提供了一种SEM-D模块高温检测装置，具备以下有益效果：

该一种SEM-D模块高温检测装置，通过箱体、电机、旋转杆、支撑板、环形槽、限位结构、加热结构和控制器的设置，使SEM-D模块高温检测装置，具备升温速度快、且内部升温均匀的优点，提升模块高温检测装置检测结果的准确性，同时解决了现有的模块高温检测装置对模块升温速度慢、且升温不均匀的问题。

附图说明

图1为本实用新型结构示意图；

图2为本实用新型结构剖视示意图；

图3为本实用新型局部结构立体示意图；

图4为本实用新型加热结构示意图。