[实用新型]一种硅片检测装置以及太阳能电池生产线有效
申请号: | 201921967764.2 | 申请日: | 2019-11-14 |
公开(公告)号: | CN210467869U | 公开(公告)日: | 2020-05-05 |
发明(设计)人: | 宋德义;王志宝;孙贤;乔勇;孙俪娜;李书坤 | 申请(专利权)人: | 盐城阿特斯协鑫阳光电力科技有限公司;阿特斯阳光电力集团有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 胡彬 |
地址: | 224431 江苏省盐*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 硅片 检测 装置 以及 太阳能电池 生产线 | ||
1.一种硅片检测装置,其特征在于,包括:
承载体(1),所述承载体(1)上具有放置被检测硅片(100)的放置区域,所述放置区域与所述硅片(100)的外形形状相一致;
传输机构(2),所述传输机构(2)与所述承载体(1)传动连接以移送所述承载体(1);以及
检测机构,位于所述传输机构(2)的上方,其包括多个光电探测元件(3),当所述承载体(1)位于所述检测机构的正下方时,各个所述光电探测元件(3)分别与所述放置区域的各个顶角处相对应。
2.根据权利要求1所述的硅片检测装置,其特征在于,所述硅片检测装置还包括支架(6),各个所述光电探测元件(3)均安装于所述支架(6)上并能在所述支架(6)上移动。
3.根据权利要求2所述的硅片检测装置,其特征在于,所述支架(6)包括:
第一构件(61),所述第一构件(61)上设置有用于固定所述光电探测元件(3)的第一条形槽(611),所述第一条形槽(611)沿水平方向延伸;以及
第二构件(62),所述第二构件(62)上设置有用于固定所述第一构件(61)的第二条形槽(621),所述第二条形槽(621)沿水平方向延伸,且所述第二条形槽(621)的延伸方向垂直于所述第一条形槽(611)的延伸方向。
4.根据权利要求3所述的硅片检测装置,其特征在于,所述支架(6)还包括第三构件(63),所述第三构件(63)上设置有用于固定所述第二构件(62)的第三条形槽(631),所述第三条形槽(631)沿竖直方向延伸。
5.根据权利要求1所述的硅片检测装置,其特征在于,各个所述光电探测元件(3)的探测光轴与所述放置区域形成的交点均位于所述放置区域的顶角区域内。
6.根据权利要求5所述的硅片检测装置,其特征在于,各个所述交点与所述放置区域的两个相邻边的间距(d)相等。
7.根据权利要求1所述的硅片检测装置,其特征在于,所述光电探测元件(3)为光电开关,所述放置区域内与所述光电探测元件(3)相对应的位置处设置有反光片(4)。
8.根据权利要求1所述的硅片检测装置,其特征在于,所述硅片检测装置还包括控制器(5),所述控制器(5)与所述检测机构及所述传输机构(2)电性连接。
9.根据权利要求8所述的硅片检测装置,其特征在于,所述硅片检测装置还包括与所述控制器(5)电性连接的报警器(7),所述报警器(7)包括发声元件和/或发光元件。
10.一种太阳能电池生产线,其特征在于,包括依次设置的烘干炉、如权利要求1-9任意一项所述的硅片检测装置、以及丝网印刷机,所述传输机构(2)的一端与所述烘干炉的输出端相接,所述传输机构(2)的另一端与所述丝网印刷机相接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的