[实用新型]一种电子芯片辐照试验专用箱

说明书

本实用新型公开了一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在支撑架的上方固定物料板；在物料板的两侧设置角铁架；在角铁架与下方的支撑架之间固定一斜撑；在角铁架的上方设置铅板；本实用新型的技术效果在于，利用了铅板能够削弱钴‑60辐射源强度的特性，在电子芯片尤其航天芯片的上方设置铅板，同时，利用不同厚度的铅板削弱钴‑60辐射源不同强度的特性，制造出电子芯片辐照试验专用箱。

技术领域

本实用新型涉及辐照试验专用箱，尤其涉及一种电子芯片辐照试验专用箱。

背景技术

由于，在电子芯片尤其航天芯片的生产工艺，需要钴-60辐照试验，来测试其可靠性，但是，由于钴-60具有辐射性，需要在做实验时，将要辐照的芯片放入其中，然后置于钴-60辐照场中进行辐照试验，在现有技术中，只是利用了钴-60进行辐照，但是还没有对于航天芯片收到钴-60的受辐照的剂量进行控制。

实用新型内容

本实用新型的目的是根据上述现有技术的不足之处，本实用新型实现了一种电子芯片辐照试验专用箱，其特征在于，包括支撑架、铅板、角铁架、物料板；所述的支撑架由若干根的支柱构成方形框架；在所述的支撑架的上方固定所述的物料板；在所述的物料板的两侧设置所述的角铁架；在所述的角铁架与下方的所述的支撑架之间固定一斜撑；在所述的角铁架的上方设置所述的铅板。

进一步，所述的铅板的材料为纯铅，所述铅板的厚度为20mm-500mm。

进一步，所述的物料板呈L形；所述的物料板的两侧侧依靠在所述的角铁架的一侧固定。

进一步，所述的支柱材料为方管。

进一步，所述的物料板的材料为304不锈钢。

本实用新型的技术效果在于，利用了铅板能够削弱钴-60辐射源强度的特性，在电子芯片尤其航天芯片的上方设置铅板，同时，利用不同厚度的铅板削弱钴-60辐射源不同强度的特性，制造出电子芯片辐照试验专用箱。

附图说明

图1是本实用新型的立体示意图。

图2是本实用新型的主视图。

图3是本实用新型的左视图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图，对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本实用新型一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本实用新型保护的范围。

结合附图1、附图2、附图3所示，在本实施例中，公开了一种电子芯片辐照试验专用箱，包括支撑架1、铅板2、角铁架3、物料板4；支撑架1由若干根的支柱6构成方形框架；在支撑架1的上方固定物料板4；在物料板4的两侧设置角铁架3；在本市实施例中，将电子芯片放到物料板4，由于钴-60辐射源在正上方，利用了铅板能够削弱钴-60辐射源强度的特性，在角铁架3的上方设置铅板2，这样，就能够实现利用不同厚度的铅板削弱钴-60辐射源不同强度，使得电子芯片收到辐照的强度实现了控制，为了牢固支撑铅板2，在角铁架3与下方的支撑架1之间固定一斜撑5。

在本实施例中的铅板2的材料为纯铅，纯铅材料具有良好的削弱钴-60辐射源强度的特性，同时，纯铅材料更容易控制电子芯片受到钴-60辐射源的辐射强度；铅板2的厚度为20mm-500mm，物料板4呈L形；物料板4的两侧依靠在角铁架3的一侧固定，这样的固定方式，使得物料板4能够牢固的固定在角铁架3上。

在本实施例中，支柱6的材料为方管，物料板4的材料为304不锈钢。