[实用新型]在轨红外辐射基准源温度控制系统有效
申请号: | 201921985762.6 | 申请日: | 2019-11-18 |
公开(公告)号: | CN210864444U | 公开(公告)日: | 2020-06-26 |
发明(设计)人: | 郑建丽;丁雷;吴亦农;赵月中;杨宝玉;钱婧;韩昌佩 | 申请(专利权)人: | 中国科学院上海技术物理研究所 |
主分类号: | G05D23/30 | 分类号: | G05D23/30;G01J5/00 |
代理公司: | 上海沪慧律师事务所 31311 | 代理人: | 郭英 |
地址: | 200083 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 红外 辐射 基准 温度 控制系统 | ||
1.一种在轨红外辐射基准源温度控制系统,包括红外辐射源单元(1)、加热器单元(2)、温度测量单元(3)、控制单元(4)和隔热腔体(5),其特征在于:
所述的温度控制系统通过分布式测量隔热腔体(5)内红外辐射源单元(1)上的多个温度测量单元(3),经过控制单元(4)集中控制加热器单元(2)的加热功率,得到一个具有均匀且稳定的红外辐射量,为星载红外光学仪器的辐射量化测量提供一种手段。
2.如权利要求1所述的一种在轨红外辐射基准源温度控制系统,其特征在于,所述的红外辐射源单元(1)为经过发黑或喷黑漆处理的金属板,其表面的发射率经过测量,其在不同温度下的红外波段辐亮度经过标校。
3.如权利要求1所述的一种在轨红外辐射基准源温度控制系统,其特征在于,所述的加热器单元(2)为均布在红外辐射源单元背面的多个薄膜加热片。
4.如权利要求1所述的一种在轨红外辐射基准源温度控制系统,其特征在于,所述的温度测量单元(3)为贴装在红外辐射源单元背面的铂电阻。
5.如权利要求1所述的一种在轨红外辐射基准源温度控制系统,其特征在于,所述的控制单元(4)为具有多路温度采集和控点可调的多路温度控制电路。
6.如权利要求1所述的一种在轨红外辐射基准源温度控制系统,其特征在于,所述的隔热腔体(5)为采用多层铝箔包裹的腔室。
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