[实用新型]一种键帽拉拔测试组件有效
申请号: | 201921999798.X | 申请日: | 2019-09-16 |
公开(公告)号: | CN211262676U | 公开(公告)日: | 2020-08-14 |
发明(设计)人: | 刘利刚 | 申请(专利权)人: | 昆山鸿志犀自动化机电设备有限公司 |
主分类号: | G01M13/00 | 分类号: | G01M13/00;G01N3/12;G01N3/04 |
代理公司: | 江苏昆成律师事务所 32281 | 代理人: | 刘尚轲 |
地址: | 215300 江苏省苏州市昆山市玉山镇*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 拉拔 测试 组件 | ||
本实用新型公开了一种键帽拉拔测试组件,其包括伺服电机、受所述伺服电机驱动进行左右运动的第一连接板、固定在所述第一连接板上的音圈电机、受所述音圈电机驱动进行上下运动的第二连接板、固定在所述第二连接板上的压力传感器、设置在所述压力传感器感应端的键帽拉拔块。本实用新型空间占用小,响应迅速快且控制精度高,节省了空间占用,提高了拉拔效率,且使用寿命长。
本实用新型是专利申请号为201921536689.4、申请日为2019年9月16日、专利名称为一种通用性高的键帽拉拔测试装置的实用新型专利的分案申请。
【技术领域】
本实用新型属于键盘组装设备技术领域,特别是涉及一种键帽拉拔测试组件。
【背景技术】
键盘一般是由铝基板、线路板、剪刀支撑架和键帽组装而成的,目前已知的造成键盘键帽弹力或拉拔力不良的主要原因有:1)来料不良,例如铝基板卡勾变形、剪刀支撑架中轴断裂或内外剪刀配装键帽结构处缺料和崩塌、键帽的四角与内外剪刀配装处(即书面名为水滴孔和滑槽结构)存在不良;2)装配不良,例如在组装的过程中由于人为或组装的机械设备不良损坏了键盘或键帽结构。以上两点造成键盘键帽弹力或拉拔力不足或没有弹力的主要原因,将直接导致键盘做成成品后会严重影响键盘的使用寿命和使用的机械手感。所以键帽安装到键盘上后,为了确保后续使用的可靠性,需要对键盘键帽组装后的拉拔力进行测试。
本公司早在2013年就开始研发键盘的组装检测的自动化设备,关于键帽拉拔测试设备,本公司已申请的专利号为201510726534.7公开了一种键帽拉拔力测试用按压模组及键帽拉拔力测试机,其在移载模组活动端设置有若干与一排键帽一一对应的且具有压力感应功能的拉钩块,通过拉钩块拉住键帽上抬实现对键帽拉拔力的测试。随着本公司的研发,又申请了专利号为 201810262493.4的一种键帽结构组装不良测试机,在实际使用过程中,发现该设备的检测结果的准确度有时候不是很稳定,且检测头组件模块的整体结构有点复杂,结构数量较多,不够精简。
因此,有必要提供一种新的键帽拉拔测试组件来解决上述问题。
【实用新型内容】
本实用新型的主要目的在于提供一种键帽拉拔测试组件,空间占用小,响应迅速快且控制精度高,节省了空间占用,提高了拉拔效率,且使用寿命长。
本实用新型通过如下技术方案实现上述目的:一种键帽拉拔测试组件,其包括伺服电机、受所述伺服电机驱动进行左右运动的第一连接板、固定在所述第一连接板上的音圈电机、受所述音圈电机驱动进行上下运动的第二连接板、固定在所述第二连接板上的压力传感器、设置在所述压力传感器感应端的键帽拉拔块。
进一步的,所述键帽拉拔块的两侧设置有挂钩。
进一步的,所述挂钩为扁平板状结构。
进一步的,所述挂钩为圆柱结构或上表面为圆弧表面的板状结构。
与现有技术相比,本实用新型一种键帽拉拔测试组件的有益效果在于:空间占用小,响应迅速快且控制精度高,可实现高频率、小幅度、高精度的直线驱动,节省了空间占用,提高了拉拔效率,且使用寿命长。
【附图说明】
图1为本实用新型的结构示意图;
图2为本实用新型中键帽拉拔块的一种结构示意图;
图3为本实用新型中键帽拉拔块的另一种结构示意图;
图中数字表示:
100键帽拉拔测试组件;
1滑轨;2伺服电机;3第一连接板;4音圈电机;5第二连接板;6压力传感器;7键帽拉拔块,71挂钩。
【具体实施方式】
实施例一:
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