[实用新型]一种集束型测试同轴电连接器有效

专利信息
申请号: 201922004906.1 申请日: 2019-11-19
公开(公告)号: CN211017504U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 姜攀;曾金荣;黄艳 申请(专利权)人: 福州迈可博电子科技股份有限公司
主分类号: H01R13/40 分类号: H01R13/40;H01R13/436;H01R13/627;H01R13/631;H01R13/72;H01R24/00;H01R24/40;H01R25/00
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙) 35214 代理人: 段惠存
地址: 350000 福建省福*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 集束 测试 同轴 连接器
【权利要求书】:

1.一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于,包括集束插头和集束插座;

所述集束插头包括壳体、射频连接器和固定板;所述壳体的一端设有第一凹槽,所述第一凹槽内沿第一凹槽方向上设有两个以上的第一台阶通孔;所述射频连接器设置在第一台阶通孔内且所述射频连接器的连接头位于第一凹槽内;所述固定板设置于第一凹槽相对的端面上,所述固定板上设有用于固定射频连接器的连接电缆的凹槽,所述凹槽的数量与第一台阶通孔的数量相等且一一对应设置;

所述集束插座的截面形状与第一凹槽截面形状相同且所述集束插座的一端设置在第一凹槽内;所述集束插座内部设有与第一台阶通孔数量相等且一一对应设置的第二台阶通孔;所述集束插座与集束插头接触端面上设有与所述连接头相适配的第二凹槽;所述第二凹槽的数量和第二台阶通孔的数量相等且一一对应设置。

2.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:还包括测试电路板;所述测试电路板上设有测试接口;所述测试接口与第二台阶通孔的数量相等且一一对应;所述测试电路板设置在集束插座与集束插头接触端面的相对面上。

3.根据权利要求2所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:所述集束插座与测试电路板接触的端面上设有两个以上的定位柱;所述测试电路板上设有与所述定位柱相匹配的定位孔。

4.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:所述连接头上设有环形凸起;所述连接头的侧面上设有两个以上贯穿环形凸起的条形槽。

5.根据权利要求4所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:所述集束插座的第二凹槽内设有与环形凸起相适配的第三凹槽。

6.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:所述壳体与固定板接触的端面上设有第四凹槽且所述第四凹槽的形状与固定板相同;所述固定板设置在所述第四凹槽内。

7.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:所述第一凹槽的横截面形状为矩形;两个以上所述第一台阶通孔呈直线均匀排列在第一凹槽对应矩形的任意一条的对称轴上。

8.根据权利要求1所述的一种集束型测试同轴电连接器,其特征在于:所述壳体的四周均设有与第一台阶通孔垂直的条形凹槽。

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