[实用新型]一种光致衰减测试装置

说明书

本实用新型公开了一种光致衰减测试装置，包括测试箱、光衰箱及传送带；所述测试箱包括对待测电池片进行发电量测试的电流测试平台及提供所述发电量测试需要的光线的测试光源；所述光衰箱包括提供加速所述待测电池片光衰过程中需要的热量的加热台及提供所述光衰过程中需要的光线的光衰光源；所述传送带连接所述测试箱及所述光衰箱。本实用新型通过在所述光衰箱与所述测试箱之间利用所述传送带实现所述待测电池片的输送移动，过程中不需要人工介入，也不接触所述待测电池片的受光面，能在最大程度上避免所述杂质污物对所述待测电池片的污染及剐蹭，进而确保影响所述待测电池片发电能力的只有光衰现象，提升了光衰测试结果的准确性，提升了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及光伏组件测试领域，特别是涉及一种光致衰减测试装置。

背景技术

随着科技的发展，掺硼晶体硅太阳能电池占据了光伏市场的75％以上的产品。然而，各大太阳能电池厂商皆因掺硼晶体硅太阳能电池的光致衰减现象所困扰，光致衰减(Light Induced Degradation,LID)是指太阳电池及组件在光照过程中引起的功率衰减现象。一般认为，掺硼晶体硅太阳电池光致衰减的主要原因是：在硅材料中同时存在硼和氧元素时，光照或电流注入会导致硼和氧形成硼氧(B-O)复合体，而硼氧(B-O)复合体是一种亚稳态缺陷，它会形成了深能级复合中心，从而降低了少数载流子寿命，进而降低开路电压、短路电流及转化效率。

因此，各大太阳能电池厂商极其关注刚生产的掺硼晶体硅太阳能电池的衰减率，精确的监控掺硼晶体硅太阳能电池的衰减率可以有效地控制光伏组件的功率下降幅度，降低组件厂商潜在的赔偿风险。但现有的光伏衰减，电池片在不同环境的反复转移的过程中，磨损率高，杂质污染电池片表面，导致对电池片衰减率的测试精准度下降，因此，如何找到一种保护电池片表面，提升光衰测试准确率的方法，使本领域技术人员亟待解决的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的是提供一种光致衰减测试装置，以解决现有技术中人工搬运待测电池片时对电池片表面的损伤，进而影响光衰测试的结果。

为解决上述技术问题，本实用新型提供一种光致衰减测试装置，包括测试箱、光衰箱及传送带；

所述测试箱包括对待测电池片进行发电量测试的电流测试平台及提供所述发电量测试需要的光线的测试光源；

所述光衰箱包括提供加速所述待测电池片光衰过程中需要的热量的加热台及提供所述光衰过程中需要的光线的光衰光源；

所述传送带连接所述测试箱及所述光衰箱。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述光衰箱能容纳多个所述待测电池片。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述光致衰减测试装置还包括缓存平台；

所述缓存平台用于将完成光衰的所述待测电池片冷却至室温；

所述传送带连接所述测试箱、所述缓存平台及所述光衰箱。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述测试光源和/或所述光衰光源为氙灯。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述光衰箱还包括能向所述光衰箱内输入保护气体的保护气生成器。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述保护气生成器为氮气生成器。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述测试箱还包括测试温度传感器，所述光衰箱还包括光衰温度传感器。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述光致衰减测试装置还包括温度报警器；

所述温度报警器与所述测试温度传感器及所述光衰温度传感器相连。

可选地，在所述的光致衰减测试装置中，所述光衰箱的温度范围为40摄氏度至70摄氏度，包括端点值。