[实用新型]一种用于NI测试机使用的测试母板电路板

说明书

本实用新型公开了一种用于NI测试机使用的测试母板电路板，包括数字模式连接器、第一排针、继电器模块连接器、第二排针、第一电源模块连接器、第一2pin连接器、第二电源模块连接器、第二2pin连接器、LVDS高速模块连接器和SMA连接器；数字模式连接器与第一排针连接；继电器模块连接器与第二排针连接；第一电源模块连接器与第一2pin连接器连接；第二电源模块连接器与第二2pin连接器连接；LVDS高速模块连接器和SMA连接器连接。本实用新型将NI测试机板卡的全部电路信号通过专用的屏蔽线缆引出，再根据信号的实际要求选用可靠的与信号阻抗匹配的接线端子、接插件等，保证了NI测试机信号的完整性、可靠性，且减少了项目成本、缩短了开发周期。

技术领域

本实用新型涉及通信技术领域，尤其涉及一种用于NI测试机使用的测试母板电路板。

背景技术

NI（美国德州仪器）测试机在芯片测试领域目前应用广泛，众多芯片厂家会使用NI的测试机（美国德州仪器）硬件板卡，配合labview上位机软件提供的板卡软件包进行芯片驱动程序的开发，检验芯片是否生产合格。随着测试机软硬件技术的成熟度越来越高，很多测试机具备精准电压源的功能、示波器的功能、信号发生器的功能、LVDS高速信号模块的功能、FPGA模块的功能等等，所有的模块集成在一台测试机中，对外引出各模块的接口，实现众多的测量功能，同时各模块集成在一台设备中，便于维护。

一般的NI测试机出厂配置的母板会放置到测试机的顶部，通过针脚仅是把信号引到板子上某个特定的位置（以类似芯片焊盘的形式），且这种测试母板是严格按照NI的设计图纸来引出定义，实际的板子上并没有非常清晰明确的各个信号的定义，所以一般的使用者在查找自己想要的信号时，需要对照NI的图纸查找，所以十分的不方便，另外NI提供的此块测试母板也不可以直接测试使用，还需要使用价格昂贵，采购周期长的NI配套的接插件、针脚等的来实际设计电路板，导致二次开发周期增加、研发成本增加，所以非常的不方便。

实用新型内容

针对上述现有技术存在的缺陷，本实用新型提供一种用于NI测试机使用的测试母板电路板，保证NI测试机信号的完整性、可靠性，减少项目成本、缩短开发周期，充分合理的利用NI测试机的每块硬件板卡。

本实用新型提供的一种用于NI测试机使用的测试母板电路板，其改进之处在于，包括数字模式连接器（1）、第一排针（2）、继电器模块连接器（3）、第二排针（4）、第一电源模块连接器（5）、第一2pin连接器（6）、第二电源模块连接器（7）、第二2pin连接器（8）、LVDS高速模块连接器（9）和SMA连接器（10）；

所述数字模式连接器（1）与所述第一排针（2）连接；所述继电器模块连接器（3）与所述第二排针（4）连接；所述第一电源模块连接器（5）与所述第一2pin连接器（6）连接；所述第二电源模块连接器（7）与所述第二2pin连接器（8）连接；所述LVDS高速模块连接器（9）和所述SMA连接器（10）连接。

其中，所述数字模式连接器（1）通过68针VHDCI公头转68针VHDCI电缆与NI测试机数字模式板卡连接； 数字模式板卡包括32通道，数字模式连接器也设有32通道。

所述继电器模块连接器（3）通过CABLE ASSY HD78 SHLD GRAY 762MM电缆与所述NI测试机的继电器模块板卡通信；

第一电源模块连接器（5）通过DB25F-DB25F的25针D-Sub电缆与所述NI测试机的第一电源模块板卡通信；

第二电源模块连接器（7）通过DB25F-DB25F的25针D-Sub电缆与所述NI测试机的第二电源模块板卡通信；

LVDS高速模块连接器（9）通过两端都是LVDS-73pin公头连接器的屏蔽电缆与所述NI测试机的LVDS高速模块板卡通信。LVDS高速模块板卡包括20通道，LVDS高速模块连接器也设为20通道。