[实用新型]一种光栅周期的测量装置有效

专利信息
申请号: 201922059578.5 申请日: 2019-11-25
公开(公告)号: CN212180228U 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 尹志军;张虞;吴冰;许志城 申请(专利权)人: 南京南智先进光电集成技术研究院有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙) 11363 代理人: 逯长明;许伟群
地址: 210000 江苏省南京市江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 光栅 周期 测量 装置
【说明书】:

本申请提供了一种光栅周期的测量装置。该装置中,级联光栅可以安装于光源上方,安装座可以位于级联光栅中相对的两侧边上,用于安装待测光栅。如此,光源发出的光线从级联光栅的底面射入,并从级联光栅的顶面射出,再从待测光栅的底面射入,并从待测光栅的顶面射出。通过安装于待测光栅上方的观测窗口,可以观测到光线透过级联光栅和待测光栅后形成的干涉图案,并采用安装于待测光栅上方的摄像头拍摄干涉图案,以便实验人员根据拍摄到的干涉图案确定待测光栅的周期。整个装置结构简单,只需使用级联光栅即可对待测光栅的周期进行测量,大大降低了使用和日常维护的难度。

技术领域

本申请涉及光学技术领域,特别涉及一种光栅周期的测量装置。

背景技术

光栅是一种由大量等宽等间距的平行狭缝组成的光学器件,按照对光的调制分类可分为强度光栅和位相光栅。光栅主要通过光栅的衍射特性对不同波长的光进行色散,从而精确的测量光的波长。

目前对光栅周期的测量主要有干涉测量法、莫尔条纹法、长程面型仪法以及衍射法等。但是,现有的光栅周期的测量装置大多采用激光器发出激光光束的方式获取干涉条纹,进而进行光栅周期的计算。这种结构光栅周期的测量装置由于引入了激光器,导致结构较为复杂,增大了其使用和日常维护难度。

基于此,目前亟需一种光栅周期的测量装置,用于简化光栅周期的测量装置。

实用新型内容

本申请提供了一种光栅周期的测量装置,可用于解决现有技术中光栅周期的测量装置结构较为复杂,使用和日常维护难度较大的技术问题。

本申请实施例提供一种光栅周期的测量装置,所述装置100包括底座101和位于所述底座101上的光源102;所述装置100还包括级联光栅103、安装座104、观测窗口105和摄像头106;

所述级联光栅103安装于所述光源102上方,所述光源102发出的光线从所述级联光栅 103的底面射入,并从所述级联光栅103的顶面射出;所述级联光栅103是由多个扇形光栅进行级联后组成的;其中,所述扇形光栅的最小周期为“Λ1”,最大周期为Λ2

所述安装座104位于所述级联光栅103中相对的两侧边上,用于安装待测光栅107;所述待测光栅107安装后位于所述级联光栅103上方,所述光源102发出的光线从所述级联光栅103的顶面射出后,再从所述待测光栅107的底面射入,并从所述待测光栅107的顶面射出;

所述观测窗口105安装于所述待测光栅107的上方,用于观测光线透过所述级联光栅103 和所述待测光栅107后形成的干涉图案;

所述摄像头106安装于所述待测光栅107的上方,靠近所述观测窗口105且与所述观测窗口105位于同一高度,用于拍摄所述干涉图案,以便实验人员根据拍摄到的干涉图案确定所述待测光栅107的周期。

可选地,所述干涉图案为莫尔条纹;

所述级联光栅103上设置有刻度值,所述刻度值是表示莫尔条纹的中心对应的数值。

可选地,所述待测光栅107为待测的位相光栅时,所述装置100还包括第一偏光片108 和第二偏光片109;

所述第一偏光片108位于所述级联光栅103下方,所述光源102发出的光线从所述第一偏光片108的底面射入,并从所述第一偏光片108的顶面射出后射入所述级联光栅103;

所述第二偏光片109位于所述待测光栅107下方,所述光源102发出的光线从所述级联光栅103的顶面射出后,从所述第二偏光片109的底面射入,并从所述第二偏光片109的顶面射出,再从所述待测光栅107的底面射入,并从所述待测光栅107的顶面射出。

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