[实用新型]一种光纤宏弯损耗测试装置有效

专利信息
申请号: 201922066089.2 申请日: 2019-11-26
公开(公告)号: CN210719639U 公开(公告)日: 2020-06-09
发明(设计)人: 杨欣;覃家乐 申请(专利权)人: 宜昌市源度科技有限公司
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 宜昌市三峡专利事务所 42103 代理人: 成钢
地址: 443500 湖北省宜昌市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 光纤 损耗 测试 装置
【说明书】:

一种光纤宏弯损耗测试装置,包括绕线柱,在绕线柱的一侧设有光源发生装置及光检测装置,光纤与光源发生装置连接,然后绕设于绕线柱上,再与光检测装置连接;所述绕线柱的直径由下至上逐渐变窄。本实用新型提供一种光纤宏弯损耗测试装置,光纤绕设完成后可直接将绕好的线向上移动,移动至直径较小的上一级绕线柱上然后将光纤拉紧,便可进行另一弯曲直径的光纤宏弯损耗测试。

技术领域

本实用新型涉及光纤制造技术领域,特别是一种光纤宏弯损耗测试装置。

背景技术

光纤通信是指利用光纤为载体,通过光信号传播来传输信息通信方式,虽然它的出现和发展历史不过三四十年,但是已经给世界通信界带来了巨大的变化。目前现代通信网络主要的传输方式就是光纤通信。要实现光纤通信,就是要尽量地降低光纤的损耗,光纤损耗的大小直接影响到光纤通信系统中继距离的长短,因此宏弯损耗测试是光纤制造及研发过程中一个重要环节,通过对比不同弯曲度的光学特性来检测光纤的宏弯损耗。同一条光纤在绕设之后若要更改不同直径的绕线柱需将光纤解开之后重新绕设,过程较为繁琐,并且频繁的重复绕设有可能对光纤造成损坏。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是提供一种光纤宏弯损耗测试装置,减少光纤在不同弯曲直径下的调整步骤。

为解决上述技术问题,本实用新型所采用的技术方案是:一种光纤宏弯损耗测试装置,包括绕线柱,在绕线柱的一侧设有光源发生装置及光检测装置,光纤与光源发生装置连接,然后绕设于绕线柱上,再与光检测装置连接;所述绕线柱的直径由下至上逐渐变窄。

优选的,所述绕线柱包括由下至上依次包括一级绕线柱、二级绕线柱、三级绕线柱、四级绕线柱及五级绕线柱。

优选的,所述一级绕线柱的直径为25mm,二级绕线柱的直径为20mm,三级绕线柱的直径为15mm,四级绕线柱的直径为10mm,五级绕线柱的直径为7.5mm。

优选的,所述光源发生装置及光检测装置设于承载板上,承载板设于升降杆的上端。

优选的,所述光纤通过紧线装置之后与光检测装置连接;在紧线装置内设有用于供光纤通过的通道,在通道的中部设有缺口;在缺口的上部设有滚轮,在缺口的下部设有从动轮,滚轮及从动轮将光纤夹持于其间。

优选的,所述滚轮及从动轮的外表面设有橡胶涂层。

本实用新型提供一种光纤宏弯损耗测试装置,光纤绕设完成后可直接将绕好的线向上移动,移动至直径较小的上一级绕线柱上然后将光纤拉紧,便可进行另一弯曲直径的光纤宏弯损耗测试。

附图说明

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明:

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为本实用新型紧线装置的结构示意图;

图3为本实用新型紧线装置的内部结构示意图。

具体实施方式

如图1所示,一种光纤宏弯损耗测试装置,包括绕线柱1,在绕线柱1的一侧设有光源发生装置2及光检测装置3,光纤与光源发生装置2连接,然后绕设于绕线柱1上,再与光检测装置3连接;所述绕线柱1的直径由下至上逐渐变窄。提供多种弯曲直径,能够方便的测量光纤在不同弯曲直径下的损耗。

优选的,所述绕线柱1包括由下至上依次包括一级绕线柱101、二级绕线柱102、三级绕线柱103、四级绕线柱104及五级绕线柱105。

优选的,所述一级绕线柱101的直径为25mm,二级绕线柱102的直径为20mm,三级绕线柱103的直径为15mm,四级绕线柱104的直径为10mm,五级绕线柱105的直径为7.5mm。

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