[实用新型]一种天线测试装置

说明书

本实用新型公开一种天线测试装置，包括：天线通路、接地线、花式焊盘，所述花式焊盘包括测试端和接地端，所述测试端设置在天线通路上，所述接地端设置在接地线上。通过上述方式，设置花式焊盘代替射频同轴测试座，让夹具顶针和花式焊盘直接接触实现信号的传输，解决了现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

技术领域

本实用新型涉及测试领域，特别涉及一种天线测试装置。

背景技术

在具有射频模块的电子产品的生产过程中，产线上的射频校准和综测环节必不可少。目前产线的校准和综测，需要将夹具的顶针准确地接触到PCBA上的射频同轴测试座，以实现信号的准确传输，完成校准和综测。但是，射频同轴测试座只在校准和综测的时候起到传输信号的作用，对产品的正常使用和性能没有任何影响，也就是说PCBA上的射频同轴测试座是非必须的，会造成成本的浪费。另外，夹具顶针需要穿过射频同轴测试座中间的圆孔，连接到测试座内部的导体，实现信号传输，因为测试座的尺寸限制，夹具的顶针必须很细才能通过测试座中间的圆孔连接到测试座内部的导体，这种夹具设计会导致夹具顶针不稳定，在夹具压合时与PCBA上的射频同轴测试座接触不良。

实用新型内容

本实用新型的目的旨在提供一种天线测试装置，以解决现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

为达到上述目的，本实用新型提供了一种天线测试装置，包括：天线通路、接地线、花式焊盘，所述花式焊盘包括测试端和接地端，所述测试端设置在天线通路上，所述接地端设置在接地线上。

根据本实用新型的天线测试装置，设置花式焊盘代替射频同轴测试座，让夹具顶针和花式焊盘直接接触实现信号的传输，解决了现有的天线测试装置设置射频同轴测试座造成成本浪费的问题和夹具顶针不稳定造成接触不良的问题。

进一步地，所述天线通路、接地线和花式焊盘设置在PCB板上。

进一步地，所述天线通路包括第一线路和第二线路，所述第一线路和第二线路对称设置在接地线两边。

进一步地，花式焊盘的接地端为圆形焊盘，所述圆形焊盘设置在接地线上且不与天线通路接触。

进一步地，花式焊盘的测试端包括第一测试端和第二测试端，所述第一测试端设置在第一线路上，所述第二测试端设置在第二线路上，所述第一测试端不与接地线接触，所述第二测试端不与接地线接触。

进一步地，所述第一测试端和第二测试端以接地端为中心对称设置。

进一步地，所述第一测试端和第二测试端都为扇环形。

进一步地，所述花式焊盘表面镀金。

进一步地，PCB板上还设置有天线焊盘，所述天线焊盘分别设置在第一线路、第二线路和接地线的端部，所述天线焊盘连接天线。

进一步地，所述花式焊盘连接测试仪器。

附图说明

本实用新型上述的和/或附加的方面和优点从下面结合附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1为本实用新型一实施例的天线测试装置的示意图。

说明书中的附图标记如下：

10、PCB板；20、花式焊盘；21、第一测试端；22、第二测试端；23、接地端；30、天线通路；31、第一线路；32、第二线路；40、接地线；50、天线焊盘。

具体实施方式