[实用新型]一种电气性能测试治具有效

专利信息
申请号: 201922087042.4 申请日: 2019-11-27
公开(公告)号: CN211453851U 公开(公告)日: 2020-09-08
发明(设计)人: 卢建灿;李奇男;许仕林;骆志锋;夏明星 申请(专利权)人: 深圳同兴达科技股份有限公司
主分类号: G01R31/16 分类号: G01R31/16
代理公司: 深圳市中科创为专利代理有限公司 44384 代理人: 谭雪婷;谢亮
地址: 518000 广东省深圳市龙华区观澜街道新澜*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 电气 性能 测试
【说明书】:

实用新型公开一种电气性能测试治具,包括:测试治具本体和防护罩,所述防护罩罩于所述测试治具本体上,所述测试治具本体包括:从上到下依次设置的上电极组件、下电极组件和地线金属板,所述上电极组件与所述下电极组件对应设置,所述下电极组件下部固定于所述地线金属板上。本实用新型的一种电气性能测试治具,通过设置若干对应的上电极组件和下电极组件,将绝缘材料放置于上电极组件和下电极组件之间,对绝缘材料进行测试,并设有地线金属板,将泄漏的电流安全接地;所述防护罩对整个治具起到与外部环境隔离的作用,安全可靠。

技术领域

本实用新型涉及电气测试技术领域,尤其涉及一种电气性能测试治具。

背景技术

在材料的耐压测试中,可以通过直流或交流与电流泄漏或击穿电流的关系有效地发现绝缘材料的整体及局部缺陷,从而针对该缺陷做出有效的规避措施,避免不必要的影响。目前市场上主要是采用测试仪自带的探针进行测试。而采用测试仪自带的探针进行绝缘材料的电气性能测试时,一方面测试样品放置区需全区域接地;另一方面,针对绝缘材料的电气性能测试,又多采用高强电压探针而无法避免高电压对周围的干扰,过程危险,且整体测试需通过探针按点逐步测试来进行验证,操作繁琐而效率低下。

实用新型内容

本实用新型的目的是克服以上现有技术中的缺陷,针对绝缘材料提供一种电气性能测试治具。

本实用新型的技术方案如下:本实用新型提供了一种电气性能测试治具,包括:测试治具本体和防护罩,所述防护罩罩于所述测试治具本体上,所述测试治具本体包括:从上到下依次设置的上电极组件、下电极组件和地线金属板,所述上电极组件与所述下电极组件对应设置,所述下电极组件下部固定于所述地线金属板上。

进一步地,所述上电极组件包括:上板、设于所述上板下方的上接触板、若干上电极,每一所述上电极外套有一上套筒,所述上电极及上套筒穿过所述上板与所述上接触板,与所述下电极组件相对应。

进一步地,所述上板为一绝缘板,所述上接触板为一金属板,所述上接触板上设有若干第一通孔,所述上电极和所述上套筒穿过所述第一通孔与所述下电极组件相对应。

进一步地,所述上电极上端设有接电端。

进一步地,所述上电极组件还包括若干定位螺丝,所述定位螺丝一端穿过所述上板后拧紧于所述上接触板上。

进一步地,所述下电极组件包括:下接触板、设于所述下接触板下方的下板、若干下电极,每一所述下电极外套有一下套筒,所述下电极及下套筒穿过所述下接触板和所述下板,与所述地线金属板连接,所述下接触板为一金属板,所述下板为一绝缘板。

进一步地,所述下电极上端设有一接触块,所述下接触板上对应所述接触块设有容置凹槽;所述下接触板上对应所述下套筒设有若干第二通孔,每一所述第二通孔为一螺纹通孔,所述下套筒外设有螺纹,所述下套筒拧于所述第二通孔内。

进一步地,所述下电极下端通过一螺母锁于所述地线金属板上。

进一步地,所述防护罩的顶部对应所述上电极组件设有若干第三通孔。

进一步地,所述防护罩的材质为透明树脂,所述上电极组件、所述下电极组件、所述地线金属板均为黄铜材质。

采用上述方案,本实用新型的电气性能测试治具,结构简单,拆装方便,可满足对绝缘材料的局部及整体的电气性能进行测试,操作简便,安全性高,可大力推广使用。

附图说明

图1为本实用新型的电气性能测试治具整体示意图。

图2为本实用新型的电气性能测试治具的剖面示意图。

图3为本实用新型的电气性能测试治具的防护罩的示意图。

图4为本实用新型的电气性能测试治具的测试治具本体的示意图。

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