[实用新型]一种测试插座

说明书

本实用新型公开了一种测试插座，属于芯片检测技术领域。所述测试插座包括保护座和坐落于所述保护座上方的测试座，所述测试座的中心开设有凹槽，探针组件容纳于所述凹槽内，所述探针组件包括接地铜块和穿设于所述接地铜块内的探针；所述接地铜块上设有接地探针插孔和信号探针插孔，分别用于插设接地探针和信号探针；所述接地铜块包括由上至下叠放的上铜块和下铜块，所述上铜块和所述下铜块上的探针插孔一一对应，以使每个探针均同时插设于所述上铜块和所述下铜块上。本实用新型通过接地铜块上分别设置接地探针插孔和信号探针插孔，将接地探针和信号探针隔开，避免二者之间产生干扰；同时提高了探针放置的稳固性，保证了与芯片引脚的精准接触。

技术领域

本实用新型涉及芯片检测技术领域，尤其涉及一种测试插座。

背景技术

随着5G时代的到来，数据传输所使用的频率更高，可以达到毫米波频段；带宽更宽，可以达到数百兆；设备更加复杂，采用MIMO多天线传输数据；5G技术的快速发展也为测试5G芯片的射频(Radio Frequency，RF)性能带来了重大挑战。为了满足市场对5G芯片的超高要求，芯片都需要经过超高频的测试，但是现有的测试插座的若干探针之间存在较大的射频干扰，尤其是接地探针与信号探针之间的干扰会显著影响测试结果的准确性；此外，探针在测试插座上如果不能稳定放置，无法与芯片上的引脚精准接触，同样影响测试结果的准确性。

因此，亟待提供一种测试插座解决上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种测试插座，能够稳定放置探针，降低信号探针之间、尤其是信号探针与接地探针之间的干扰，提高测试结果的准确性。

为实现上述目的，提供以下技术方案：

一种测试插座，包括保护座和坐落于所述保护座上方的测试座，所述测试座的中心开设有凹槽，探针组件容纳于所述凹槽内，所述探针组件包括接地铜块和穿设于所述接地铜块内的探针；所述接地铜块上设有接地探针插孔和信号探针插孔，分别用于插设接地探针和信号探针；

所述接地铜块包括由上至下叠放的上铜块和下铜块，所述上铜块和所述下铜块上的探针插孔一一对应，以使每个探针均同时插设于所述上铜块和所述下铜块上。

作为优选，所述测试插座还包括盖板组件，所述盖板组件包括设于所述凹槽内的上盖板和下盖板，所述上盖板上设有上卡槽，所述下盖板上设有下卡槽，所述上盖板与所述下盖板相互扣合，以使所述接地铜块卡接于所述上卡槽和所述下卡槽组成的铜块卡槽内；第一螺栓由上至下依次穿过所述上盖板和所述下盖板后锁附于所述测试座上。

作为优选，所述上卡槽和所述上铜块均为倒T型结构，所述下卡槽和所述下铜块均为T型结构，所述上盖板与所述下盖板相互扣合时，所述上铜块卡接于所述上卡槽中，所述下铜块卡接于所述下卡槽中。

作为优选，所述测试插座还包括导向板，所述凹槽的内壁上设有隔板，以将所述凹槽隔成的上方的第一凹槽和下方的第二凹槽，所述导向板嵌设于所述第一凹槽内，所述探针组件及所述盖板组件均设于所述第二凹槽内，所述第一螺栓锁附于所述隔板上，芯片经由所述导向板放入所述凹槽，并与探针接触。

作为优选，所述下盖板上设有定位杆，所述上盖板及所述隔板上设有第一定位孔，所述定位杆插设于所述第一定位孔中。

作为优选，所述下盖板为矩形结构，所述定位杆设置有两个，且分别位于所述下盖板的同一对角线上。

作为优选，所述导向板的底面上设有第一台阶，所述第一台阶与所述隔板抵接，以定位所述导向板在所述第一凹槽内的位置。

作为优选，所述导向板的底面上还设有第一螺栓容纳槽，以容纳所述第一螺栓。

作为优选，所述第一凹槽的边缘处设有扣手槽。

作为优选，所述保护座上设置探针避让槽，以提供探针伸缩时的容纳空间。