[实用新型]一种太赫兹波探测装置有效

专利信息
申请号: 201922110866.9 申请日: 2019-11-30
公开(公告)号: CN211122524U 公开(公告)日: 2020-07-28
发明(设计)人: 李龙 申请(专利权)人: 北立传感器技术(武汉)有限公司
主分类号: G01N21/3581 分类号: G01N21/3581
代理公司: 武汉谦源知识产权代理事务所(普通合伙) 42251 代理人: 尹伟
地址: 430040 湖北*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 赫兹 探测 装置
【权利要求书】:

1.一种太赫兹波探测装置,其特征在于:包括太赫兹波辐射源(1)、第一透镜(2)、用于承载待测物的载物台(3)、采集部、转换部和信号输出部,所述太赫兹波辐射源(1)设置在所述第一透镜(2)的一侧,并正对所述第一透镜(2)设置,所述第一透镜(2)用于将太赫兹波辐射源(1)产生的辐射状的太赫兹波转换为相互平行的太赫兹波,所述采集部设置在所述第一透镜(2)的另一侧,并正对所述第一透镜(2)设置,所述载物台(3)设置于所述第一透镜(2)与所述采集部之间,所述采集部包括若干个靠近所述载物台(3)的一端设有开口且可将携带待测物信息的太赫兹波汇聚并采集的采集探头(4),且所述采集探头(4)的开口端正对待测物,所述采集探头(4)远离所述第一透镜(2)的一端与所述转换部耦合连接连接,所述转换部与所述信号输出部电连接。

2.根据权利要求1所述的一种太赫兹波探测装置,其特征在于:所述采集探头(4)的内部靠近所述载物台(3)的一端设有第二透镜(5),所述第二透镜(5)可将所述采集探头(4)采集到的多束太赫兹波汇聚至所述转换部的输入端。

3.根据权利要求2所述的一种太赫兹波探测装置,其特征在于:所述转换部包括用于将携带待测物体信息的太赫兹波进行斩波调制处理的光学斩波器和用于测量经所述光学斩波器斩波调制处理的太赫兹波的辐射强度,并根据辐射强度的变化产生对应的电信号的热释电探测器,进入所述采集探头(4)的太赫兹波经所述第二透镜(5)后汇聚至所述光学斩波器的输入端,所述光学斩波器与所述热释电探测器连接,所述热释电探测器与所述信号输出部电连接。

4.根据权利要求3所述的一种太赫兹波探测装置,其特征在于:所述信号输出部包括将所述电信号进行放大、整流及模数转换处理并得出对应参数的信号处理电路及利用所述对应参数进行成像显示的显示终端,所述热释电探测器与所述信号处理电路电连接,所述信号处理电路与所述显示终端电连接。

5.根据权利要求1-4任一项所述的一种太赫兹波探测装置,其特征在于:若干个所述采集探头(4)阵列分布在所述载物台(3)远离所述第一透镜(2)的一侧,每个所述采集探头的开口端均朝向待测物,且所有穿过待测物的太赫兹波分别被对应的所述采集探头采集。

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