[实用新型]一种陶瓷基片裂痕检测装置

说明书

本实用新型一种陶瓷基片裂痕检测装置，包括检测单元和分类单元，所述检测单元设置在所述分类单元上方；所述分类单元包括检测板、固定板和电机，所述电机设置于机架上表面，且输出端连接所述固定板；所述固定板上表面的一端设置有电动推杆，所述固定板上表面的另一端设置有转动板；所述转动板上端通过转轴与所述检测板转动连接；还包括控制器，所述控制器用于控制所述电机和所述电动推杆。本实用新型一种陶瓷基片裂痕检测装置，设置所述分类单元，使陶瓷基片在检测完成后自动按照良品或劣品分开收集，不需要人为的进行分离，比较节省人力。

技术领域

本实用新型涉及陶瓷基片检测技术领域，具体为一种陶瓷基片裂痕检测装置。

背景技术

陶瓷基片，又称陶瓷基板，是以电子陶瓷为基底，对膜电路元件及外贴切元件形成一个支撑底座的片状材料，陶瓷基片按照陶瓷基片应用领域的不同，又分为HIC陶瓷基片、聚焦电位器陶瓷基片、激光加热定影陶瓷基片、片式电阻基片、网络电阻基片等，按加工方式的不同，陶瓷基片分为模压片、激光划线片两大类，陶瓷基片在使用时一般需要先对陶瓷基片进行裂痕检测；

现有申请号为201620211662.8公开一种硅片裂痕检测装置，通过在检测装置的影像组件的前侧设置吹气嘴，在硅片由输送带输送至影像组件检测表面时，先采用吹气嘴对硅片表面进行吹气，吹掉硅片表面的杂物，避免硅片表面污染物造成检测误判，且影像组件和吹气嘴组成的检测单元靠近硅片的上下端面各至少设置有两组，确保吹气嘴将硅片表面吹掉，保证检测的准确性，且在硅片的上下端面布置，实现对硅片表面的全面检测，影像组件的发射光源对硅片发射入射光，而经硅片反射后的反射光被影像传感器接收，同时影像传感器将光照信号传递给成像处理单元，经成像处理单元整处理后在显示单元对硅片表面成像显示，便于观测，但这样设置在检测时，只能检测裂痕的存在，并不能检测裂痕的深度，检测结果不够精确，而且，在检测完成后不能自动将良品与劣品分开收集，还需要人为的进行分离，比较浪费人力。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提出一种可以检测裂痕深度，且检测后能自动将良品和劣品分开收集的陶瓷基片裂痕检测装置。

为实现上述目的，本实用新型提出一种陶瓷基片裂痕检测装置，包括检测单元和分类单元，所述检测单元设置在所述分类单元上方；

所述分类单元包括检测板、固定板和电机，所述电机设置于机架上表面，且输出端连接所述固定板；所述固定板上表面的一端设置有电动推杆，所述固定板上表面的另一端设置有转动板；所述转动板上端通过转轴与所述检测板转动连接；

还包括控制器，所述控制器用于控制所述电机和所述电动推杆。

优选地，所述检测单元包括安装架和检测仪器，所述安装架设置在所述机架上，所述检测仪器设置于所述安装架上。

优选地，所述安装架下表面还设置有风扇，所述风扇的输入端与所述控制器的输出端电连接。

优选地，还包括指示灯，所述指示灯设置于所述安装架上表面，且所述指示灯的输入端与所述控制器的输出端电连接。

优选地，所述检测板上表面的前后两端分别设置有挡板。

优选地，所述检测板上表面设置有橡胶垫。

优选地，还包括下料斗，所述下料斗与所述检测板连接。

优选地，所述机架上表面设置有滑槽，所述滑槽内均设置有滑杆，所述滑杆上端与所述固定板连接。

优选地，还包括良品收集箱和劣品收集箱，所述良品收集箱和所述劣品收集箱分别设置在所述分类单元的两侧。

优选地，所述良品收集箱和所述劣品收集箱下方均设有收集箱支撑板。