[实用新型]用于高温高压两相流局部参数测量的光纤探针及密封结构

权利要求书

1.用于高温高压两相流局部参数测量的光纤探针及密封结构，其特征在于，包括光纤探针本体，实现光纤探针本体在管路上的测试连接和高温高压下密封的光纤探针与测试管道连接结构和光纤探针尾部密封结构；

所述光纤探针本体包括传输光纤(2)，位于传输光纤(2)端部的探针尖端(1)，包覆在传输光纤(2)前部的支撑和保护光纤的第一层不锈钢套管(3)，包覆在第一层不锈钢套管(3)后部及传输光纤(2)后部的第二层不锈钢套管(5)，传输光纤(2)与第一层不锈钢套管(3)之间的间隙中填充高温粘合胶，作为第一层密封结构(4)，第一层不锈钢套管(3)与第二层不锈钢套管(5)之间的间隙中填充高温粘合胶，作为第二层密封结构(6)；还包括光纤探针尾部连接结构，光纤探针尾部连接结构包括依次连接的连接器主体(7)、后罩壳(9)和光纤保护套(10)，位于连接器主体(7)、后罩壳(9)和光纤保护套(10)中心的挤压套管(8)；传输光纤(2)的后端穿入挤压套管(8)中，且第二层不锈钢套管(5)插入连接器主体(7)的凹槽中并固定；

所述光纤探针与测试管道连接结构包括测试管路(11)，固定在测试管路(11)开孔上的焊接连接件(12)，光纤探针本体测试端伸入其中的不锈钢导管(14)，套接在不锈钢导管(14)上与焊接连接件(12)连接形成不锈钢导管密封点一(18)的第一密封卡套(13)；

所述光纤探针尾部密封结构包括光纤探针本体测试端和不锈钢导管(14)端部伸入其中的变径两通接头(15)，套接在变径两通接头(15)一端与变径两通接头(15)连接形成不锈钢导管密封点二(19)的第二密封卡套(16)，套接在变径两通接头(15)另一端与变径两通接头(15)连接形成光纤探针本体密封点(20)的第三密封卡套(17)。

2.根据权利要求1所述的用于高温高压两相流局部参数测量的光纤探针及密封结构，其特征在于，所述不锈钢导管(14)能够自由变化其长度，实现测量位置的灵活调节。

3.根据权利要求1所述的用于高温高压两相流局部参数测量的光纤探针及密封结构，其特征在于，所述探针尖端(1)和传输光纤(2)的材料均为石英光纤，两者为一整体，直径为100μm-200μm，采用研磨法或熔拉法将光纤一端制成圆锥形，锥角为30°-90°；或者探针尖端(1)为蓝宝石材料加工成上述锥角与直径大小的圆锥形，传输光纤为石英光纤，通过高温粘合胶将蓝宝石探针尖端与石英传输光纤连接到一起。

4.根据权利要求1所述的用于高温高压两相流局部参数测量的光纤探针及密封结构，其特征在于，所述第一层不锈钢套管(3)的外径为0.5-1mm，第二层不锈钢套管(5)的外径为1-3mm。

5.根据权利要求1所述的用于高温高压两相流局部参数测量的光纤探针及密封结构，其特征在于，所述不锈钢导管(14)的外径为3-6mm，具体尺寸视第二层不锈钢套管(5)的外径而定。