[实用新型]一种可调节高精度挠曲测试仪有效

专利信息
申请号: 201922163600.0 申请日: 2019-12-05
公开(公告)号: CN211401980U 公开(公告)日: 2020-09-01
发明(设计)人: 麦宝华;李许;禹伟腾;刘闽;梁澄波;徐晓光;张学军;张栋 申请(专利权)人: 深圳海关工业品检测技术中心
主分类号: G01N3/20 分类号: G01N3/20;G01N3/02
代理公司: 深圳市深可信专利代理有限公司 44599 代理人: 刘昌刚
地址: 518000 广东省深圳*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 调节 高精度 挠曲 测试仪
【权利要求书】:

1.一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:包括底座、固定导轨、角度指示标以及用于安装角度指示标的可调节支架,所述固定导轨和可调节支架均固定在底座上,所述固定导轨与角度指示标在Y轴方向对应设置。

2.根据权利要求1所述一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:所述固定导轨上设有夹紧装置,所述夹紧装置包括夹钳和调节手柄,所述夹钳用于夹紧被测物品。

3.根据权利要求2所述一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:所述固定导轨上还设有样品测试夹具,所述样品测试夹具通过螺钉固定在导轨的夹钳上。

4.根据权利要求3所述一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:所述样品测试夹具的端部还设有导柱,所述导柱的直径为10±1mm。

5.根据权利要求1所述一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:所述可调节支架上设有调节导轨。

6.根据权利要求5所述一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:所述调节导轨设有两条,分别位于可调节支架的两边,且在可调节支架的两边平行设置。

7.根据权利要求6所述一种可调节高精度挠曲测试仪,其特征在于:所述角度指示标的背面对应调节导轨的位置设有两个调节滑块,所述角度指示标通过调节滑块与调节导轨的配合在可调节支架上可调节设置。

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