[实用新型]漏点深度测深装置有效

专利信息
申请号: 201922187961.9 申请日: 2019-12-09
公开(公告)号: CN211174089U 公开(公告)日: 2020-08-04
发明(设计)人: 樊玉环 申请(专利权)人: 樊玉环
主分类号: E21B47/10 分类号: E21B47/10;E21B47/04
代理公司: 乌鲁木齐合纵专利商标事务所 65105 代理人: 周星莹;李慧琴
地址: 838200 新疆维吾尔自*** 国省代码: 新疆;65
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摘要:
搜索关键词: 深度 测深 装置
【权利要求书】:

1.一种漏点深度测深装置,其特征在于包括公接头、封隔外壳、封隔胶筒、单向阀、上扶正器、下扶正器和阀顶套,上扶正器下部外侧固定安装有公接头,公接头包括由上至下依次固定连通在一起的上连接筒、密封筒和下连接筒,上连接筒上部内侧与上扶正器下部外侧通过螺纹连接固定安装在一起,下连接筒外侧与下扶正器上部内侧通过螺纹连接固定安装在一起,下扶正器上部内侧设有下内环台,下连接筒内侧设有下端与下内环台上端相接触的阀顶套,阀顶套上端位于密封筒下部内侧,阀顶套上端中央设有上下贯通的第一流道,阀顶套上部设有内外连通的第一通孔,对应第一通孔位置的密封筒中部设有内外连通的第二通孔,密封筒内部设有下端与阀顶套上端相接触的单向阀,对应单向阀上侧位置的密封筒中部内侧固定有上内环台,上内环台下部设有内外连通的第三通孔,密封筒外侧由上至下依次固定有直径依次减小的第一外环台、第二外环台和第三外环台,第一外环台下部外侧安装有上部内侧与其相接触的封隔外壳,封隔外壳下端与下扶正器上端相接触,封隔外壳中部内侧固定有第一内环台,第一内环台上设有内外连通且与第三通孔相对应的第四通孔,对应第一内环台上端与第一外环台下端之间位置的密封筒外侧和封隔外壳内侧之间形成安装腔,对应第二外环台下方位置的封隔外壳下部内侧固定有第二内环台,第二内环台下部内侧固定有第三内环台,第三内环台内侧与第三外环台下部外侧相接触,对应第一内环台下端与第三内环台上端之间位置的密封筒外侧和封隔外壳之间形成作用腔,封隔外壳外侧固定套装有封隔胶筒。

2.根据权利要求1所述的漏点深度测深装置,其特征在于还包括弹簧,安装腔内设有上端与第一外环台下端相接触的弹簧,弹簧下端与第一内环台上端相接触。

3.根据权利要求1或2所述的漏点深度测深装置,其特征在于单向阀包括阀体、密封球和阀盖,阀体包括由上至下直径依次增大且固定在一起的上安装段和下安装段,下安装段外侧与密封筒内侧对应位置相接触,下安装段下端与阀顶套上端相接触,阀体上端中央设有上下贯通的第二流道,下安装段上端设有下端与其相接触的阀盖,阀盖上端与上内环台下端相接触,阀盖外侧与密封筒内侧对应位置相接触,阀盖上端中央设有上下贯通的第三流道,第三流道包括右上至下直径依次增大的第一直孔段、第二直孔段和第三直孔段,阀盖下部内侧与上安装段外侧通过螺纹连接固定安装在一起,第三直孔段内设有下部外侧与上安装段上端相接触的密封球。

4.根据权利要求3所述的漏点深度测深装置,其特征在于密封球的直径大于第二流道的直径且小于第三直孔段的直径。

5.根据权利要求3所述的漏点深度测深装置,其特征在于还包括密封系统,密封系统包括密封系统包括第一密封圈、第二密封圈和第三密封圈,封隔外壳上部内侧与第一外环台之间设有至少一个第一密封圈,对应第三通道上方和下方位置的第二外环台与第一内环台之间均上下间隔设有至少三个第二密封圈,下安装段中部外侧与密封筒内侧之间上下间隔设有至少两个第三密封圈。

6.根据权利要求4所述的漏点深度测深装置,其特征在于还包括密封系统,密封系统包括密封系统包括第一密封圈、第二密封圈和第三密封圈,封隔外壳上部内侧与第一外环台之间设有至少一个第一密封圈,对应第三通道上方和下方位置的第二外环台与第一内环台之间均上下间隔设有至少三个第二密封圈,下安装段中部外侧与密封筒内侧之间上下间隔设有至少两个第三密封圈。

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