[实用新型]测试工艺制程治具有效

专利信息
申请号: 201922193950.1 申请日: 2019-12-09
公开(公告)号: CN211013452U 公开(公告)日: 2020-07-14
发明(设计)人: 熊进国 申请(专利权)人: 昆山丘钛微电子科技有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 上海波拓知识产权代理有限公司 31264 代理人: 蔡光仟
地址: 215300 江苏省苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 测试 工艺 制程治具
【权利要求书】:

1.一种测试工艺制程治具,包括治具主体,其特征在于,所述治具主体包括第一凹槽、第二凹槽和第一通光孔,所述第一凹槽与所述第二凹槽相连,所述第一通光孔设置在所述第一凹槽内,所述测试工艺制程治具还包括挡片、压块和滑块,所述挡片设置在所述第一凹槽的底部,所述压块固定在所述第一凹槽内,所述压块位于所述挡片上方,所述滑块可活动地设置在所述挡片与所述压块之间,所述压块上设有用于设置产品的容置缺口,所述容置缺口与所述第一通光孔相对,所述滑块的一部分位于所述容置缺口内。

2.如权利要求1所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述测试工艺制程治具还包括挡块,所述挡块可活动地设置在所述治具主体上,并位于所述第一凹槽的一侧。

3.如权利要求2所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述治具主体还包括转动轴或固定柱,所述挡块上设有固定孔,所述转动轴或所述固定柱设置在所述固定孔内,所述挡块沿所述转动轴或所述固定柱转动。

4.如权利要求1所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述治具主体还包括多个定位孔,所述定位孔位于所述第一凹槽和所述第二凹槽的两侧。

5.如权利要求4所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述定位孔为螺纹孔。

6.如权利要求1所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述滑块上设有限位凸起,所述挡片与所述压块之间设有滑槽,所述限位凸起位于所述滑槽内。

7.如权利要求6所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述测试工艺制程治具还包括弹性元件,所述弹性元件抵靠在所述滑块与所述压块之间,以驱使所述滑块移动,所述弹性元件靠近所述滑槽。

8.如权利要求7所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述弹性元件为弹簧,所述压块上还设有防变形凸起,所述弹簧设置在所述防变形凸起上,所述弹簧的一端抵靠所述滑块,另一端抵靠所述压块,所述滑块靠近所述弹簧的一侧设有容置孔,所述防变形凸起设置在所述容置孔内。

9.如权利要求7所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述弹性元件为弹片,所述弹片抵靠在所述滑块与所述压块之间,以驱使所述滑块移动。

10.如权利要求1所述的测试工艺制程治具,其特征在于,所述挡片包括第二通光孔,所述第二通光孔与所述第一通光孔相对。

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