[实用新型]一种夹具的高压测试电路

说明书

本实用新型涉及一种夹具的高压测试电路，包括地线环碰触感应片RELAY1、芯片RELAY2、开关K1、开关K2、开关K3、感应片、芯片Mispedian、排针J1、芯片U1和芯片U2，所述芯片RELAY2的脚1接地，芯片RELAY2的脚2连接到灯泡BULB的输出端。本实用新型当高压仪启动后，高压仪地线端电流大于5mA时，高压仪报警，二极管D1红灯亮；反之电流小于5mA，绿灯亮，1S后，高地线环碰触感应片RELAY1复位；当高地线环碰触感应片RELAY1复位后，芯片RELAY2吸合，电流经过灯泡BULB产生一个漏电流，漏电保护插头正常脱扣，反之不能正常脱扣为不良，1S后，芯片U2的P0‑1脚输出低电平，芯片RELAY2复位，等待下一次测试。

技术领域

本实用新型涉及夹具测试技术领域，具体为一种夹具的高压测试电路。

背景技术

现有的测试夹具，在测试时，无法自动完成一个测试流程，无法得知测试时的电压大小，每次测试都需要人工调节，测试效率低，为提高测试效率，提出一种夹具的高压测试电路。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种夹具的高压测试电路，实现了高电平启动，电流大于5mA时红灯亮报警，电流小于5mA时，漏电保护插头正常脱扣，反之不能正常脱扣为不良，1S后芯片RELAY2复位，即可进行下一次测试，实现循环测试，提高了测试的效率，解决了现有技术中测试效率低的问题。

为实现上述目的，本实用新型提供如下技术方案：一种夹具的高压测试电路，包括地线环碰触感应片RELAY1、芯片RELAY2、开关K1、开关K2、开关K3、感应片、芯片Mispedian、排针J1、芯片U1和芯片U2，所述芯片RELAY2的脚1接地，芯片RELAY2的脚2连接到灯泡BULB的输出端，灯泡BULB的输入端连接到芯片Mispedian的脚2，芯片RELAY2的脚3连接到芯片Mispedian的脚3，芯片RELAY2的脚4连接Mispedian的脚2，芯片RELAY2的脚5连接到地线环碰触感应片RELAY1的脚1；所述芯片Mispedian的脚1连接到地线环碰触感应片RELAY1的脚3，芯片Mispedian的脚2连接到地线环碰触感应片RELAY1的脚4，芯片Mispedian的脚3连接到地线环碰触感应片RELAY1的脚2；所述地线环碰触感应片RELAY1的脚5连接到感应片的输入端，地线环碰触感应片RELAY1的脚6连接到排针J1的脚2，地线环碰触感应片RELAY1的脚8连接到排针J1的脚1；所述地线环碰触感应片RELAY1的脚17连接到开关K2的脚2，开关K2的脚1连接到220VACL电源输入端，开关K2的脚3连接到三极管Q2的集电极，三极管Q2的基极串联电阻R2后连接到芯片U2的P0-2端子，三极管Q2的发射极接地，开关K2的脚4接220VACN电源输入端；所述地线环碰触感应片RELAY1的脚10和脚12相连后接到高压仪地线端，地线环碰触感应片RELAY1的脚14和脚16相连后接到高压仪高压端，地线环碰触感应片RELAY1的脚13连接到芯片U2的P3-6端子，地线环碰触感应片RELAY1的脚15连接到芯片U2的P1-5端子，地线环碰触感应片RELAY1的脚9连接到芯片RELAY2的脚9，并连接到芯片U1的脚220VAV.N端子；所述芯片RELAY2的脚6连接到芯片U2脚P1-6，芯片RELAY2的脚7连接到芯片U1的脚220VAC.L端子，芯片RELAY2的脚10连接到开关K1的脚2，开关K1的脚1连接到220VACL电源输入端，开关K1的脚3连接到三极管Q1的集电极，三极管Q1的发射极接地，三极管Q1的基极串联电阻R1后连接到芯片U2的脚P0-1，开关K1的脚4连接到芯片U1的12VDC输出端，并连接到开关K3的脚4，开关K3的脚1连接到高压仪启动开关输入端，开关K3的脚2连接到启动开关输出端，开关K3的脚3连接到三极管Q3的集电极，三极管Q3的发射极接地，三极管Q3的基极串联电阻R3后连接到芯片U2的脚P0-4端子；所述芯片U1的5VDC输出端子连接到电阻R4的输入端，邴连杰到电阻R5的输入端和芯片U2的+5VDC电源输入端，电阻R4的输出端连接到发光二极管D1的输入端，发光二极管D1的输出端连接到芯片U2的P1-1端子，电阻R5的输出端连接到二极管D2的输入端，二极管D2的输出端连接到P1-0端子，芯片U1的GND端子与芯片U2的GND端子相连后接地，芯片U2的P1-4端子接到高压报警端。