[实用新型]测试头

说明书

本实用新型公开了一种测试头，所述测试头包括外壳、探针和挡板，所述外壳内设有安装腔，外壳的一侧设有连通所述安装腔的安装口，所述探针包括若干根，若干根所述探针以设定的排布方式设于所述安装腔内，且所述探针均可伸缩于所述安装腔内外，所述挡板上设有一个以上的通孔，且所述挡板可拆卸地设于所述安装口上，对应的所述探针从所述通孔伸出所述安装腔外。该测试头可对目前市场上各种不同类型的芯片进行识别、烧录或者复位等操作，并且使用方便。

技术领域

本实用新型公开了一种测试头，属于芯片烧写、识别及复位等领域。

背景技术

现如今打印机芯片的品种和样式繁多，更换下来的芯片需要复位后才能继续使用。由于各类芯片各不相同，导致每种芯片都需要专用的测试头，以完成对芯片的识别、烧录或者复位等操作。例如，当芯片端子为3个时，测试头就需要至少3个探针才行；如果芯片端子为 2个时，探针的数量就至少为两个；甚至某几种芯片的端子都是4个，并且端子排列方式是一样的，但是不同类型芯片上端子的实现的功能不一样，例如相同位置的端子，在A类型芯片上，该端子为时钟端子，但是在B类型的芯片上，该端子为电源端子，导致还是需要不同的测试头。

因此，现有技术中还没有一种测试头能满足对市场上各类芯片进行识别、烧录或者复位等操作，且使用方便。

实用新型内容

本实用新型提供了一种测试头，可对目前市场上各种不同类型的芯片进行识别、烧录或者复位等操作，并且使用方便。

本实用新型的一方面涉及一种测试头，包括外壳、探针和挡板，所述外壳内设有安装腔，外壳的一侧设有连通所述安装腔的安装口，所述探针包括若干根，若干根所述探针以设定的排布方式设于所述安装腔内，且所述探针均可伸缩于所述安装腔内外，所述挡板上设有一个以上的通孔，且所述挡板可拆卸地设于所述安装口上，对应的所述探针从所述通孔伸出所述安装腔外。

进一步地，还包括电路板，所述电路板设于所述外壳内，所述电路板上设有时钟信号接口、接地信号接口、数据信号接口以及电源接口，若干根所述探针均至少与所述时钟信号接口、接地信号接口、数据信号接口和电源接口其中的二个连接。

进一步地，所述外壳包括壳体和壳罩，所述壳体的一侧设有连接所述安装口的开口，所述壳罩可拆卸地设于所述壳体上并封盖所述开口。

进一步地，所述壳罩的两侧设有连接脚，所述连接脚的内侧设有卡扣座，所述壳体的对应位置设有卡扣，所述卡扣座卡设于所述卡扣上。

进一步地，所述壳体上对应于所述安装口的位置设有第一卡槽，所述壳罩的对应位置设有第二卡槽，所述挡板相对的两侧分别设于所述第一卡槽中及所述第二卡槽中。

进一步地，所述挡板设有若干块，每块挡板均设置有一个以上的通孔，且每块挡板上的通孔均以不同的方式排布设置。

进一步地，所述壳盖的两侧还设有凹凸结构。

本实用新型的有益效果如下：

本实用新型的测试头通过更换挡板，以改变测试头上伸出的探针数量，以用于适配连接不同类型的芯片，同时，测试头的内部，通过 IC将对应的数据信息匹配给连接的芯片，从而对芯片进行识别、烧录或者复位等操作。因此，该测试头可对目前市场上各种不同类型的芯片进行识别、烧录或者复位等操作，并且使用方便。

附图说明

图1为本实用新型所述的一种测试头的立体图；

图2为本实用新型所述的一种测试头在拆卸壳罩过程中的立体图；

图3为本实用新型所述的一种测试头在拆除壳罩时的立体图；

图4为本实用新型所述的一种测试头的爆炸视图；

图5为本实用新型所述的一种测试头其中一种挡板的结构视图；