[实用新型]一种超薄样品夹具

说明书

本实用新型公开了一种超薄样品夹具，所述底环包括竖直部和水平部，所述竖直部为中空的环形结构，所述水平部为所述竖直部的环形结构底部向环心方向设置的沿径向具有第一宽度的环形凸沿；所述压环具有缺口；述底环竖直部内壁设有卡嵌结构或斜面结构。本实用新型夹具用于电子显微观察领域毫米级样品载体的夹持操作，可以有效防止载体在操作过程中的受力变形，可实现无损回收载体，且固定方式便捷、牢固可靠不易脱落。

技术领域

本实用新型涉及夹具组件技术领域，尤其涉及用于电子显微镜观察样品载体固定夹具技术领域。

背景技术

在电子显微观察领域，特别是透射电子显微观察领域，为了追求超高分辨率，常常需要样品的厚度控制在纳米级。然而纳米级的样品往往很难直接固定或者夹持，为了解决此目的，通常的做法是用一种厚度约10～20um的多孔网作为样品载体，如尼龙网，铜网，镍网，钼网，金网等等，将待观察的纳米级样品分散或分布于样品载体上。具体操作流程为：将样品滴加或者平铺在载体上，再将载体放入一个压片卡槽中固定，进行显微观察。然而，此方案虽然可以解决观察需求，但却存在一个缺陷：因载体本身尺寸小，一般直径仅为3毫米左右，厚度也只有微米级，在压片卡槽的固定过程中受力后会变形，这将导致样品只能做一次性观察，无法重复实验数据，这对严谨的科学研究来说是致命的。可见，开发一种可无损回收载体以及实现可重复样品观察的夹具和载体固定方式，具有非常重要的意义。

实用新型内容

为了解决上述技术问题，本实用新型提出如下技术方案：

一种超薄样品夹具，包括底环和压环，其特征在于：

所述底环包括竖直部和水平部，所述竖直部为中空的环形结构，所述水平部为所述竖直部的环形结构底部向环心方向设置的沿径向具有第一宽度的环形凸沿；所述压环具有缺口；所述底环和压环分别位于样品载体两侧；所述底环的所述水平部环形凸沿内径小于样品载体外直径。

进一步的，所述底环的所述环形凸沿内径为2～10mm。

进一步的，所述底环内壁设有卡嵌结构。优选的，所述卡嵌结构为环形凹槽或环形楔角槽。进一步的，所述环形楔角槽与所述环形凸沿上表面的夹角为45～90度。

进一步的，所述卡嵌结构的轴向高度为100～150μm，所述卡嵌结构的径向深度为30～100μm。

进一步的，所述压环内壁设有斜面结构。所述斜面结构与所述环形凸沿上表面的夹角为90～135度。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型的超薄样品夹具，底环和压环将待测样品的载体夹持在中间，形成三明治夹持结构，有效防止样品载体的脱落和操作过程中的变形，使样品可重复利用；压环的圆周上形成缺口的结构可以便于压环放置和取出的操作；在底环的竖直部内壁设置卡嵌结构，使压环的一部分可以嵌入其中，从而对夹持的样品载体进行施压固定，并且在样品载体的圆周方向施压均匀防止载体变形，同时也可以防止压环从底环中脱落丢失；在底环的竖直部内壁设置有斜面结构，使底环竖直部内壁形成轴向方向自下而上直径逐渐增大的开口，使操作人员无需对准的精确操作就能将样品载体放入并滑落到底环底部，样品载体放置的过程更易于操作，同时还能防止样品载体在放置的过程中与壁面进行碰撞或挤压导致的变形。

附图说明

图1为本实用新型的超薄样品夹具未组装结构示意图。

图2为本实用新型的超薄样品夹具组装后结构示意图。

图3为本实用新型的超薄样品夹具第一实施方式下的底环A-A剖面结构示意图。

图4为本实用新型的超薄样品夹具第二实施方式下的底环A-A剖面结构示意图。

图5为本实用新型的超薄样品夹具第三实施方式下的底环A-A剖面结构示意图。