[实用新型]一种便于过压保护和欠压关断测试的辅助电路、测试系统

说明书

本实用新型提供一种便于过压保护和欠压关断测试的辅助电路、测试系统，包括电源和电源芯片，所述的电源与电源芯片的输入端连接；电源芯片的UV端连接有UV辅助电路；所述的电源芯片的OV端连接有OV辅助电路；所述的电源芯片的EN端连接有EN辅助电路；所述的电源通过第八电阻与OV辅助电路连接；所述的电源通过第七电阻与UV辅助电路连接；所述的电源还与EN辅助电路连接，其中，所述的第七电阻和第八电阻均为0欧电阻。

技术领域

本实用新型涉及电源测试技术领域，具体涉及一种便于过压保护和欠压关断测试的辅助电路、测试系统。

背景技术

随着服务器行业的飞速发展，服务器性能要求越来越高，服务器的多样性和结构也更为复杂，与之而来的是服务器主板组成的复杂化，因此对于主板的测试工作也越来越复杂，要求的测试项目也越来越多元化，要求的测试精度也越来越严格。

电源作为服务器主板工作的血液，其质量的好坏直接决定了主板工作的稳定程度。因此对于电源完整性的测试越来越重要。对于复杂的服务器板卡，伴之会有复杂的电源网络，甚至会有几十组不同的power rails，每一组power rail都应尽可能保证其高质量的设计。与之而来的就是要做到每组电源芯片的高效精准工作，同时还要有针对电压电流过压过流等异常情况的保护模式，一旦发生过压、欠压或者过流的情况，芯片能够及时做出动作来关闭输出，以保护本身或者后级电路不会承受较大压力甚至烧毁。因此，在关注测试每组电源芯片质量好坏的同时，对于其保护功能的测试也就显得同样重要。目前市场上，绝大部分的电源芯片尤其是Hot Swap芯片都集成了过压、欠压的判断与保护功能，在板卡的设计过程中，都可以参考芯片厂商给出的外围Demo配合实际需求来设计相应的电路。从测试角度看，精确的测试板卡上电源芯片的过压、欠压功能可以判断是否符合设计要求，一定程度上可以减免不必要的损失。

一般P12V的输入直接来自PSU或者上级电路，从P12V到电源芯片没有可以断开外接测试直流电源的位置；通过割断PCB板上P12V的VIN电路，在近芯片端刮铜连接外部测试直流电源的方法显得比较繁琐，工作量大，而且对板卡具有破坏性；对于一些前端放置电感的电路设计，可通过拆掉电感，在近芯片端接直流电源，但拆卸电感与后续焊接电感是一件比较麻烦的事，并且对于额定电流较大的，需要较粗的线焊接在焊盘上，稍有不慎就会破坏焊盘。降低P12V的过程中，存在优先触发EN使能低电平的情况，由此不能判断保护原因是因为触发UVLO还是EN为低电平导致，此情况无法评判该芯片是否具有UVLO功能。

发明内容

针对进行输入OVP和UVLO的测试过程中，因为没有预留测试位置所带来的繁琐操作及风险，以及改变输入电压值会同时改变EN大小，无法评判该芯片是否具有UVLO功能的问题，本实用新型提供一种便于过压保护和欠压关断测试的辅助电路、测试系统。

本实用新型的技术方案是：

本实用新型提供一种便于过压保护和欠压关断测试的辅助电路，包括电源和电源芯片，所述的电源与电源芯片的输入端连接；

电源芯片的UV端连接有UV辅助电路；所述的电源芯片的OV端连接有OV辅助电路；所述的电源芯片的EN端连接有EN辅助电路；

所述的电源通过第八电阻与OV辅助电路连接；

所述的电源通过第七电阻与UV辅助电路连接；

所述的电源还与EN辅助电路连接，其中，所述的第七电阻和第八电阻均为0欧电阻。

进一步的，所述的UV辅助电路包括第三电阻、第四电阻和第二电容，所述的电源依次通过第七电阻、第三电阻和第四电阻接地；所述的第二电容并联连接在第四电阻的两端；第七电阻、第三电阻和第四电阻串联连接后与第四电容并联；所述的第三电阻和第四电阻的连接点连接到电源芯片的UV端。