[实用新型]一种材质测试用半导体制冷设备有效
申请号: | 201922244028.0 | 申请日: | 2019-12-13 |
公开(公告)号: | CN211601185U | 公开(公告)日: | 2020-09-29 |
发明(设计)人: | 李杰 | 申请(专利权)人: | 杭州欣禾工程管理咨询有限公司 |
主分类号: | F25B21/02 | 分类号: | F25B21/02;G01N25/16 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310000 浙江省杭州*** | 国省代码: | 浙江;33 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 材质 测试 半导体 制冷 设备 | ||
1.一种材质测试用半导体制冷设备,包括测试箱(1),其特征在于:所述测试箱(1)前后内壁固定连接有分隔板(2),所述分隔板(2)内安装有半导体制冷片(3),所述半导体制冷片(3)左右两端分别时散热端和制冷端,所述测试箱(1)左端开凿有一对插孔(4),所述插孔(4)内插设有螺纹杆(5),所述螺纹杆(5)左端固定连接有手推板(6),所述分隔板(2)外端开凿有两个关于半导体制冷片(3)对称的交流孔(7),所述螺纹杆(5)远离手推板(6)的一端固定连接有封板(8),所述封板(8)位于分隔板(2)右侧,所述螺纹杆(5)外端螺纹连接有螺母(9),所述螺母(9)位于测试箱(1)左侧,所述螺纹杆(5)外端固定连接有挡环(10),所述挡环(10)与测试箱(1)内壁之间固定连接有压缩弹簧(11),所述压缩弹簧(11)位于螺纹杆(5)外侧。
2.根据权利要求1所述的一种材质测试用半导体制冷设备,其特征在于:所述测试箱(1)左端固定连有防磨环(12),所述防磨环(12)位于插孔(4)孔口处。
3.根据权利要求1所述的一种材质测试用半导体制冷设备,其特征在于:所述封板(8)和螺母(9)相互考级的一端均固定连接有保温垫(13)。
4.根据权利要求1所述的一种材质测试用半导体制冷设备,其特征在于:所述压缩弹簧(11)由不锈钢材质制成,所述压缩弹簧(11)表面涂设有防锈漆。
5.根据权利要求1所述的一种材质测试用半导体制冷设备,其特征在于:所述交流孔(7)的内壁粘设有海绵环,所述海绵环通过双面胶与交流孔(7)的内壁粘接。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于杭州欣禾工程管理咨询有限公司,未经杭州欣禾工程管理咨询有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201922244028.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。