[实用新型]一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具有效

专利信息
申请号: 201922251200.5 申请日: 2019-12-16
公开(公告)号: CN210892951U 公开(公告)日: 2020-06-30
发明(设计)人: 杨泽坡;杨文秀 申请(专利权)人: 无锡集磁科技有限公司
主分类号: G01B5/08 分类号: G01B5/08;G01B5/12;G01B5/00;G01B5/02
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 向文
地址: 214143 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 检测 磁芯气隙 位置
【权利要求书】:

1.一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具,其特征在于:包括检具本体和两个孔位检测探针,所述检具本体上设置有用于放置磁芯并且检测磁芯内外径的磁芯放入槽,所述磁芯放入槽内设置有用于检测磁芯气隙的气隙卡鼻,所述检具本体上设置有用于检测磁芯的两个开孔的位置和向心度的两个磁芯孔位检测孔,两个所述孔位检测探针分别与两个磁芯孔位检测孔相匹配。

2.根据权利要求1所述的一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具,其特征在于:所述检具本体上开设有两个磁芯拿取口,两个磁芯拿取口分别位于磁芯放入槽两侧。

3.根据权利要求1所述的一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具,其特征在于:两个所述磁芯孔位检测孔一端位于检具本体侧部,另一端位于磁芯放入槽的圆心位置。

4.根据权利要求1所述的一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具,其特征在于:所述气隙卡鼻的宽度等于磁芯气隙的宽度。

5.根据权利要求1所述的一种用于检测磁芯气隙与开孔位置的检具,其特征在于:两个所述孔位检测探针上均设置有限位把手。

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