[实用新型]一种深度测量装置有效

专利信息
申请号: 201922306982.8 申请日: 2019-12-18
公开(公告)号: CN211826516U 公开(公告)日: 2020-10-30
发明(设计)人: 曾海;王兆民 申请(专利权)人: 深圳奥比中光科技有限公司
主分类号: G01S17/08 分类号: G01S17/08;G01S17/36;G01S7/4911;G01S7/4912
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 王震宇
地址: 518000 广东省深圳市南*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: 一种 深度 测量 装置
【说明书】:

一种深度测量装置,包括:发射模组,其包含由多个子光源组成的光源阵列,以具有多个斑点的投影图案提供输出光来照射目标物体;采集模组,其检测包括所述输出光经所述目标物体反射回的至少一部分反射光;控制与处理电路,被配置为根据所述输出光和所述反射光的相位差获取所述目标物体的距离;其中,所述光源阵列包含多个分立的子光源阵列,各子光源阵列被配置为可控制独立开启或者同步开启以使得所述发射模组提供不同视场角和/或不同斑点密度的投影图案。本实用新型可以灵活适应各种深度测量应用下对目标物体的测量需求,并降低测量装置的功耗。

技术领域

本实用新型涉及一种深度测量的技术领域,尤其涉及一种深度测量装置。

背景技术

基于时间飞行(ToF)原理的深度测量装置为基于从目标反射的光来标识和映射目标物体,核心部件包括光源和感光器,光源被配置为朝向目标物体发射光,感光器用于接收由目标物体反射回来的反射光。

ToF测量精度及测量距离会受到光源强度的影响,而在现有的ToF深度测量装置中,光源采用单一形式的泛光照明,将光源发出的能量进行均匀分布,这样会导致所需的功耗较大,测量距离较小,并且功能上也单一受限,不利于广泛使用。

实用新型内容

为了克服现有技术存在上述缺陷中的至少一种,本实用新型提供一种深度测量装置。

一种深度测量装置,包括:

发射模组,其包含由多个子光源组成的光源阵列,所述发射模组被配置为以具有多个斑点的投影图案提供输出光来照射目标物体;

采集模组,其包含由至少一个像素组成的图像传感器,所述图像传感器被配置为检测包括所述输出光经所述目标物体反射回的至少一部分反射光;

控制与处理电路,与所述发射模组以及所述采集模组连接,所述控制与处理电路被配置为根据所述输出光和所述反射光的相位差获取所述目标物体的距离;

其中,所述光源阵列包含多个分立的子光源阵列,各子光源阵列被配置为可控制独立开启或者同步开启以使得所述发射模组提供不同视场角和/或不同斑点密度的投影图案。

进一步地,所述光源阵列的子光源规则排列或不规则排列。

进一步地,所述光源阵列的多个子光源阵列分开排列。

进一步地,所述光源阵列的多个子光源阵列交叉排列。

进一步地,所述光源阵列的多个子光源阵列具有不同的排列密度。

进一步地,所述光源是垂直腔面发射激光器。

进一步地,所述图像传感器是ToF图像传感器。

进一步地,每个所述像素包括至少两个抽头,所述抽头用于采集经所述目标物体反射回的光束所产生的电信号。

进一步地,所述控制与处理电路控制所述发射模组近距采用稀疏投影,远距采用密集投影。

进一步地,所述控制与处理电路控制所述发射模组近距采用小视场角投影,远距采用大视场角投影。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果有:

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