[实用新型]一种岩石光谱二向性测量装置有效

专利信息
申请号: 201922310733.6 申请日: 2019-12-20
公开(公告)号: CN211978678U 公开(公告)日: 2020-11-20
发明(设计)人: 陈雪娇;潘蔚;田青林;余长发;唐义 申请(专利权)人: 核工业北京地质研究院
主分类号: G01N21/25 分类号: G01N21/25
代理公司: 核工业专利中心 11007 代理人: 王婷
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 岩石 光谱 向性 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:包括光源(1)、固定平台(8)、半圆龙骨A(2)、旋转平台(9)、半圆龙骨B(3)、标尺A(4)、标尺B(7)、探头(5)和岩石放置框(6);所述半圆龙骨A(2)的两端垂直固定在固定平台(8)的上表面,所述半圆龙骨B(3)的两端垂直固定在旋转平台(9)的上表面上,岩石放置框(6)固定在旋转平台(9)的圆心处,所述半圆龙骨B(3)上设置有标尺A(4),标尺A(4)上安装有光源(1);所述半圆龙骨A(2)上设置有标尺B(7),标尺B(7)上安装有探头(5);所述旋转平台(9)同心内套在固定平台(8)内。

2.根据权利要求1所述的一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:所述标尺A(4)与半圆龙骨B(3)之间以及标尺B(7)与半圆龙骨A(2)之间均设置有连接件用于连接;所述标尺A(4)和标尺B(7)均指向旋转平台(9)圆心处,通过连接件实现光源和探头相对于旋转平台(9)中心的小范围距离调整。

3.根据权利要求2所述的一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:所述固定平台(8)整体均为圆环结构,固定平台(8)的上表面上表刻有0~360°刻度圆,0°和180°标刻位置分别对应半圆龙骨A(2)的两端与固定平台(8)上表面固定连接的位置;半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)上表面上标刻有角度刻度;半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)上的中点位置刻度均为0°,半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)的中点位置的两侧均标刻有0~90°,刻度精度为1°,估算精度为0.1°;所述半圆龙骨A(2)和和半圆龙骨B(3)的圆心和刻度圆圆心重合。

4.根据权利要求3所述的一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:所述旋转平台(9)整体为圆盘结构,所述旋转平台(9)的外径与固定平台(8)的内径相匹配;且固定平台(8)和旋转平台(9)圆心同轴连接,所述旋转平台(9)在固定平台(8)内水平旋转;所述固定平台(8)上的刻度圆围绕旋转平台(9)标刻;所述旋转平台(9)上表面刻有指针,用于指示旋转平台(9)与半圆龙骨B(3)同固定平台(8)及半圆龙骨A(2)之间的刻度圆方位角。

5.根据权利要求4所述的一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:所述连接件分别套装在半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)上,并可沿半圆龙骨A(2)和半圆龙骨B(3)的圆弧表面移动,所述连接件放置在其所在半圆龙骨上的圆弧角度刻度位置即表示其相对于旋转平台(9)圆心的方位角。

6.根据权利要求5所述的一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:所述岩石放置框(6)还包括:俯仰旋转电机和夹持框,夹持框安装在俯仰旋转电机上,能够实现岩石的俯仰旋转。

7.根据权利要求6所述的一种岩石光谱二向性测量装置,其特征在于:所述光源(1)为平行光源。

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