[实用新型]一种新型α、β表面污染测量仪有效
申请号: | 201922322159.6 | 申请日: | 2019-12-20 |
公开(公告)号: | CN211741593U | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 张庆威 | 申请(专利权)人: | 中核控制系统工程有限公司 |
主分类号: | G01T1/167 | 分类号: | G01T1/167;G01T1/20 |
代理公司: | 核工业专利中心 11007 | 代理人: | 吕岩甲 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 新型 表面 污染 测量仪 | ||
1.一种新型α、β表面污染测量仪,其特征在于:包括镀铝脉络膜、双闪烁体、光反射结构、光电倍增管、电子学线路;镀铝脉络膜上设置有光反射结构,镀铝脉络膜与光反射结构之间设置有双闪烁体,光反射结构上设置有光电倍增管,光反射结构上端与电子学线路连接。
2.根据权利要求1所述的新型α、β表面污染测量仪,其特征在于:所述的镀铝脉络膜厚度不超过4μm。
3.根据权利要求1所述的新型α、β表面污染测量仪,其特征在于:所述的双闪烁体,靠近镀铝脉络膜喷涂有ZnS(Ag),其厚度为3.25mg/cm2;靠近光反射结构为塑料闪烁体,其厚度为5mm。
4.根据权利要求1所述的新型α、β表面污染测量仪,其特征在于:所述的光反射结构颜色为黑色。
5.根据权利要求1所述的新型α、β表面污染测量仪,其特征在于:所述的光反射结构内表面均匀喷涂二氧化钛。
6.根据权利要求1所述的新型α、β表面污染测量仪,其特征在于:所述的光电倍增管选用四面窗型的光电倍增管。
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