[实用新型]一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具

权利要求书

1.一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，包括主体(1)，其特征在于：所述主体(1)一侧的中部开设有圆形通道(20)，所述圆形通道(20)的内部滑动连接有翻转圆筒(3)，所述主体(1)一侧顶部的一侧固定安装有光源开关(22)，所述主体(1)的顶部固定安装有与圆形通道(20)的顶部相通的半导体检测显微镜(2)，且所述圆形通道(20)与半导体检测显微镜(2)的连接处固定安装有环形照明灯(19)，所述环形照明灯(19)通过光源开关(22)与外接电源电性连接。

2.根据权利要求1所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述翻转圆筒(3)包括前圆板(5)、后圆板(6)、两个活动治具(8)和把手(14)，所述前圆板(5)一侧的两端分别通过滑杆(7)与后圆板(6)一侧的两端固定连接，两个所述滑杆(7)一侧穿过两个活动治具(8)一侧的两端开设的圆孔(16)，所述前圆板(5)的另一侧固定连接有把手(14)。

3.根据权利要求2所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述把手(14)远离前圆板(5)的一端固定安装有调节键(13)，所述调节键(13)的一端通过活动杆穿过把手(14)与前圆板(5)内部的伸缩力臂(15)的一端活动连接，所述伸缩力臂(15)的另一端通过滑块与活动杆表面开设的滑槽滑动连接，所述伸缩力臂(15)的两侧均与伸缩杆的一端固定连接，两个所述伸缩杆的另一端穿过前圆板(5)的表面分别与两个对称的锁柱(12)一端固定连接，所述调节键(13)与把手(14)的连接处和两个锁柱(12)与前圆板(5)的连接处均固定安装有弹簧。

4.根据权利要求3所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：所述圆形通道(20)正对主体(1)一侧的一端嵌设有锁环(4)，所述锁环(4)的内圈开设有两个对称的锁孔(21)，两个所述锁孔(21)分别与两个锁柱(12)卡合连接。

5.根据权利要求2所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：两个所述活动治具(8)均包括底座(9)、滑轨(11)和两个夹片(10)，所述底座(9)的一侧固定连接有滑轨(11)，所述滑轨(11)一侧的两端分别与两个夹片(10)的一端滑动连接，所述滑轨(11)的顶部开设有条形槽，所述条形槽的两端分别通过销钉与两个夹片(10)的一端固定连接。

6.根据权利要求5所述的一种便于调节大小的半导体检测用翻转治具，其特征在于：两个所述底座(9)的两侧均固定安装有旋转螺钉(18)，四个所述圆孔(16)的一侧均卡合设置有锁紧板(17)，四个所述锁紧板(17)远离圆孔(16)的一侧分别与四个旋转螺钉(18)的一端转动连接。