[实用新型]检测电路及烹饪器具

说明书

本实用新型公开了一种检测电路及烹饪器具。其中，检测电路，包括：至少两个按键，划分为至少一个分组，分组的数量小于按键的数量，同一个分组的按键的第一端接入控制器的同一个输入端，不同分组的按键的第一端接入控制器的不同的输入端，同一个分组的按键的第二端接入控制器的不同的输出端；至少一个晶体管，晶体管串联在按键的第二端和控制器的输出端之间，晶体管用于控制电流从按键的第二端流向控制器的输出端；在晶体管为多个的情况下，不同的晶体管串联在同一个分组中不同的按键的第二端和控制器的不同的输出端之间。本实用新型解决了相关技术中检测电路在按键发生顶死时会影响到其他按键正常使用的技术问题。

技术领域

本实用新型涉及家电产品领域，具体而言，涉及一种检测电路及烹饪器具。

背景技术

随着对家电产品的成本要求越来越高，通过芯片普通IO端口来驱动检测轻触按键的电路使用越来越频繁，但是由于轻触按键的接触不良，存在顶死的现象。

目前常用的轻触按键检测电路如图1所示，其中，S0-S8，KEYCOM，KEYCOM1分别连接芯片的IO脚。按键扫描过程如下：控制KEYCOM1输出低电平，KEYCOM输出高电平，S0-S8设置输入上拉；延迟适当时间；检测S0-S8状态，若S0低电平，说明K1此时被按下了，若S0高电平，说明K1此时没有没按下，其中，S1-S8(对应K2-K9)原理一致；控制KEYCOM1输出高电平，KEYCOM输出低电平，S0-S8设置输入上拉；延迟适当时间；检测S0-S8状态，若S0低电平，说明K10此时被按下了，若S0高电平，说明K10此时没有没按下，其中，S1-S8(对应K2-K9)原理一致。相应的按键顶死检测方式如下：上电电压稳定后(时间极短，一般0.3S左右)，检测被按下的键值，初步认为是被顶死的按键，设置相应的标志位；若检测到被顶死的按键松开，即检测到相应的S0-S8引脚高电平，说明被顶死的按键已经恢复正常，清除相应的标志位；正常检测过程中，不响应顶死按键的动作。

但是，上述检测电路存在如下问题：假设K1按键顶死，在上电的时候，检测此故障，并设置相应的按键顶死标志位，按键K2-K9，K11-K18按键将正常工作，不受影响，但K10将无法正常使用，具体原因如下：当KEYCOM1拉高，KEYCOM拉低，此时检测K10-K18状态。由于K1按键顶死，K1导通。S0通过K1和KEYCOM1导通，此时即使K10导通，S0也无法被完全拉低，不考虑芯片内部上拉电阻的影响下，此时S0的电平将是芯片电源电平的1/2，此时芯片不认为是低电平，所以此时K10的按下状态将无法被检测到。

针对上述的问题，目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种检测电路及烹饪器具，以至少解决相关技术中检测电路在按键发生顶死时会影响到其他按键正常使用的技术问题。

根据本实用新型实施例的一个方面，提供了一种检测电路，包括：至少两个按键，划分为至少一个分组，分组的数量小于按键的数量，同一个分组的按键的第一端接入控制器的同一个输入端，不同分组的按键的第一端接入控制器的不同的输入端，同一个分组的按键的第二端接入控制器的不同的输出端；至少一个晶体管，晶体管串联在按键的第二端和控制器的输出端之间，晶体管用于控制电流从按键的第二端流向控制器的输出端；在晶体管为多个的情况下，不同的晶体管串联在同一个分组中不同的按键的第二端和控制器的不同的输出端之间。

在本实用新型实施例中，通过在按键的第二端和控制器的输出端之间接入晶体管，基于晶体管的单向导通特性，使得即使该晶体管连接的按键顶死，也不会将该按键接入的输入端和输出端导通，从而不会影响到同一个分组中其他按键的检测，达到了准确定被顶死的按键，且不影响其他按键使用的技术效果，进而解决了相关技术中检测电路在按键发生顶死时会影响到其他按键正常使用的技术问题。

进一步地，晶体管的数量与同一个分组中按键的数量相同。通过在每个按键的第二端和控制器的输出端之间接入一个晶体管，确保每个按键被顶死都不会影响到其他按键的正常检测。