[实用新型]一种超声电化学复合的晶片清洗装置有效
申请号: | 201922354159.4 | 申请日: | 2019-12-24 |
公开(公告)号: | CN210956618U | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 高雅欣;潘继生;阎秋生 | 申请(专利权)人: | 广东工业大学 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67 |
代理公司: | 广州粤高专利商标代理有限公司 44102 | 代理人: | 王锦霞 |
地址: | 510060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 超声 电化学 复合 晶片 清洗 装置 | ||
1.一种超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,包括壳体(1)、晶片装夹组件(2)、电化学清洗组件(3)、超声组件(4)以及驱动晶片装夹组件(2)转动的驱动组件(5),所述晶片装夹组件(2)与驱动组件(5)连接,晶片装夹组件(2)包括用于放置晶片的片槽(21)以及安装于片槽(21)两端的转轴(22),所述片槽(21)悬空置于壳体(1)内,所述转轴(22)与壳体(1)转动连接;所述电化学清洗组件(3)包括阴极(31)和阳极(32),所述阴极(31)和阳极(32)分别设于所述片槽(21)的两侧;所述超声组件(4)设于晶片装夹组件(2)的下方。
2.根据权利要求1所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述晶片装夹组件(2)还包括连接旋板(23),所述连接旋板(23)与转轴(22)连接,多组片槽(21)中心对称分布、且多组片槽(21)均通过卡扣组件(6)与连接旋板(23)卡接。
3.根据权利要求2所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述片槽(21)内设有卡槽(24),所述卡扣组件(6)安装于片槽(21),所述连接旋板(23)设有与所述卡扣组件(6)卡接的勾部(25)。
4.根据权利要求3所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述卡扣组件(6)包括拉环(61)、弹簧(62)及卡板(63),所述拉环(61)的一端连接有拉杆(64),所述卡板(63)设有容拉杆(64)穿过的通孔,所述拉杆(64)的一端穿过通孔连接有卡块(65),所述弹簧(62)套于拉杆(64)的外周、且所述弹簧(62)设于卡块(65)与卡板(63)之间。
5.根据权利要求2所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述片槽(21)开设有若干弧形凹槽(26),待清洗晶片装夹于弧形凹槽(26)中。
6.根据权利要求2至5任一项所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述驱动组件(5)包括驱动电机(51)、传动带(52)以及带轮(53),所述驱动电机(51)安装于壳体(1),所述带轮(53)安装于转轴(22),所述传动带(52)连接于驱动电机(51)和带轮(53)之间;所述壳体(1)设有轴承端盖(11),所述转轴(22)与轴承端盖(11)连接。
7.根据权利要求1所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述电化学清洗组件(3)还包括空气管道(33)及气体供应器(34),所述空气管道(33)与气体供应器(34)连接,所述空气管道(33)连接于阴极(31)。
8.根据权利要求7所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述阳极(32)为网状结构,所述阴极(31)为中空管状结构。
9.根据权利要求1所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述壳体(1)内置有分隔板(12),所述分隔板(12)将壳体(1)内部空间分隔为清洗舱(13)和底舱(14),所述清洗舱(13)的底部设有孔塞(15)。
10.根据权利要求9所述的超声电化学复合的晶片清洗装置,其特征在于,所述超声组件(4)包括超声发生器(41)及超声换能器(42),所述超声换能器(42)与超声发生器(41)电连接、且所述超声换能器(42)安装于底舱(14)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造