[实用新型]一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置有效

专利信息
申请号: 201922355959.8 申请日: 2019-12-25
公开(公告)号: CN210981524U 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 谭智勇;沈兴华;许毅;曹俊诚 申请(专利权)人: 江苏盖姆纳米材料科技有限公司
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42
代理公司: 江阴市轻舟专利代理事务所(普通合伙) 32380 代理人: 孙燕波
地址: 214400 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 发散 赫兹 辐射源 功率 测量 装置
【说明书】:

实用新型涉及一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置,属于太赫兹探测技术领域。包括功率计探头、功率计表头和反射光学元件,所述功率计探头的敏感面设于反射光学元件的焦点处,所述反射光学元件和功率计探头分别固定于平台上,所述反射光学元件用于接收被测发散性太赫兹辐射并将被测发散性太赫兹辐射反射于功率计探头的敏感面上,所述功率计探头和功率计表头通信,所述功率计表头用于显示功率计探头探测到的太赫兹辐射功率值。本申请不仅降低了测量装置的构件复杂度,而且减少了功率测量的误差,提高功率测量的可靠性和准确性。

技术领域

本实用新型涉及一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置,用于太赫兹频段发散性辐射源的功率测量和校准,属于太赫兹探测技术领域。

背景技术

随着太赫兹探测技术是当前太赫兹领域的研究重点,其中太赫兹辐射源的功率测量与标定是太赫兹应用技术中的基础技术,可以说辐射源功率标定的准确性确决定了其潜在的应用领域和场景。当前太赫兹辐射源的功率测量方法主要是采用一组离轴抛物面反射镜将点发射的太赫兹辐射能量收集至其中一个离轴抛物面反射镜的焦点处,然后将太赫兹功率计敏感面放置于该焦点处进行测量,最后计算得到太赫兹辐射源的输出功率值。

离轴抛物面反射镜是一种将平行光变成会聚光或者将发散光变成平行光的反射镜,但在上述太赫兹辐射功率测量过程中,离轴抛物面反射镜组包含两个相同参数的离轴抛物面反射镜,其相对位置和朝向需要预先采用可见光模拟的发散性点光源来模拟。这在功率测量过程中,增加了装置构建的复杂度,同时两个离轴抛物面反射镜的相对位置和朝向的调节在实际操作过程中难免出现误差,导致功率测量的误差增加。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置,降低测量装置的构件复杂度,减少功率测量的误差,提高功率测量的可靠性和准确性。

本实用新型解决上述问题所采用的技术方案为:一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置,包括功率计探头、功率计表头和反射光学元件,所述功率计探头的敏感面设于反射光学元件的焦点处,所述反射光学元件和功率计探头分别固定于平台上,所述反射光学元件用于接收被测发散性太赫兹辐射并将被测发散性太赫兹辐射反射于功率计探头的敏感面上,所述功率计探头和功率计表头通信,所述功率计表头用于显示功率计探头探测到的太赫兹辐射功率值。

所述反射光学元件为椭球复制面反射镜。

所述椭球复制面反射镜的反射面为镀金反射面。

所述功率计探头为热点堆探测器。

与现有技术相比,本实用新型的优点在于:一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置,将椭球复制面反射镜和功率计探头设置在三维移动平台上,通过单个椭球复制面反射镜接收太赫兹辐射并将接收到的太赫兹辐射会聚于功率计探头的敏感面上,功率计表头显示功率计探头探测到的太赫兹辐射功率值。不仅降低了测量装置的构件复杂度,而且减少了功率测量的误差,提高功率测量的可靠性和准确性。通过改变太赫兹辐射的驱动参数,获得其在不同工作条件下的输出功率值,从而得到其输出功率曲线,实现对发散性太赫兹辐射源功率的有效测量。

附图说明

图1为本实用新型实施例一种发散性太赫兹辐射源的功率测量装置的示意图;

图2为不同工作条件下得到的输出功率曲线;

图中1被测发散性太赫兹辐射源、2椭球复制面反射镜、3功率计探头、4功率计表头、5平台。

具体实施方式

以下结合附图实施例对本实用新型作进一步详细描述。

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