[实用新型]用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备

权利要求书

1.用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，包括箱体(1)，其特征在于，所述箱体(1)的内部底部位置设置有液压杆A(3)，所述液压杆A(3)的上端固定连接有支撑台(2)，所述箱体(1)的内侧壁设置有竖侧板(6)，所述竖侧板(6)的侧壁开设有滑动轨(7)，所述支撑台(2)的两端滑动连接在滑动轨(7)的内部，所述支撑台(2)的上方设置有放置板(8)，所述放置板(8)的内部设置有半导体主体(19)，所述放置板(8)的内部开设有空腔(12)，所述空腔(12)的内部固定连接有液压杆B(10)，所述液压杆B(10)的一端固定连接有限位挡块(11)，所述液压杆B(10)的侧壁转动连接有下支杆(16)，所述下支杆(16)的一端轴转动连接有上支杆(17)，所述上支杆(17)的上端转动连接有弧形夹块(18)。

2.根据权利要求1所述的用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，其特征在于，所述竖侧板(6)的上端和下端均固定连接有弹性斜钢条(26)，所述弹性斜钢条(26)的一端与箱体(1)的内侧壁固定连接，所述竖侧板(6)的侧壁靠近箱体(1)的一侧均匀固定连接有多个梯形橡胶块A(24)，所述箱体(1)的内侧壁均匀固定连接有多个梯形橡胶块B(25)，多个所述梯形橡胶块A(24)与多个梯形橡胶块B(25)交错卡接设置。

3.根据权利要求1所述的用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，其特征在于，所述弧形夹块(18)的内侧壁固定连接有橡胶防滑垫，所述放置板(8)的内侧壁开设有活动槽(13)，所述活动槽(13)的内部开设有工形滑槽(14)，所述工形滑槽(14)的内部滑动连接有工形滑块(15)，所述下支杆(16)的一侧与工形滑块(15)的上表面活动连接。

4.根据权利要求1所述的用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，其特征在于，所述放置板(8)的下表面固定连接有T形滑块(5)，所述支撑台(2)的上表面开设有T形滑槽(4)，所述T形滑块(5)滑动连接在T形滑槽(4)的内部，所述放置板(8)的一侧侧壁固定连接有拉动把手。

5.根据权利要求1所述的用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，其特征在于，所述箱体(1)的内部顶部位置固定连接有探针主体(9)、监控摄像头和传感器，所述探针主体(9)设置在监控摄像头和传感器之间，所述传感器包括有光电传感器、红外线传感器和热敏感应器，所述箱体(1)的一侧侧壁固定连接有控制器，所述控制器与光电传感器、红外线传感器、热敏感应器和监控摄像头电性连接。

6.根据权利要求1所述的用于在低速操作环境中执行高速测试的半导体设备测试设备，其特征在于，所述放置板(8)的侧壁开设有插槽(22)，所述插槽(22)的内部螺纹转动连接有加固螺栓杆(23)，所述上支杆(17)的内部固定连接有螺纹筒(20)，所述加固螺栓杆(23)的一端贯穿螺纹筒(20)的内部并固定连接有调节块(21)。