[实用新型]一种flash测试治具及系统

说明书

本实用新型公开一种flash测试治具及系统，flash测试治具包括flash测试座、主控器、信号转换器以及USB接口；主控器的一端与所述flash测试座连接，另一端与所述信号转换器的一端连接；信号转换器的另一端与所述USB接口连接；所述信号转换器实现PCIE信号与USB信号之间的相互转换；flash测试系统包括多个flash测试治具和hub，多个flash测试治具分别通过所述USB接口与所述hub连接；使得对flash的测试可以通过USB接口直接实现，而USB接口支持热拔插，在更换flash时不需要重启PC端，仅需对flash测试治具进行一次拔插就可以，易于扩展，通过借助hub能够将一个USB接口扩展为多个以构成flash测试系统，能够实现同时测试flash测试治具中的多个flash，降低了flash测试过程中额外的工作量，大大提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及存储器领域，尤其涉及一种flash测试治具及系统。

背景技术

flash的品质对存储器件是及其重要的，高品质的flash不仅能够提供更好的读写速度和使用性能，其纠错能力和使用寿命也具有显著优势。企业在生产存储器件时会对不同的flash进行测试，包括开卡、挑选(sorting)等，通过挑选，能够将flash分为不同等级，高品质的flash优先被制造成对flash品质要求高的产品，比如固态硬盘等。一般品质的flash被制造成对flash要求不高的产品，比如U盘等。而一些会影响存储性能的flash则不使用。

传统的flash测试主要通过电脑连接flash对其进行操作。而电脑主板端的PCIE接口位置有限，这就导致一次测试的flash有限，并且通过PCIE接口对flash进行测试时，每次更换flash时都需要关闭电脑，连接新的一组flash后再继续重新启动，而这增加了测试flash时许多额外的工作量，影响了测试效率。

实用新型内容

为了克服上述现有技术的缺陷，本实用新型所要解决的技术问题是提供一种flash测试治具及系统，能够提高flash的测试效率。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的一种技术方案为：

一种flash测试治具，包括flash测试座、主控器、信号转换器以及USB接口；

所述主控器的一端与所述flash测试座连接，另一端与所述信号转换器的一端连接；

所述信号转换器的另一端与所述USB接口连接；

所述信号转换器实现PCIE信号与USB信号之间的相互转换。

为了解决上述技术问题，本实用新型采用的另一种技术方案为：

一种flash测试系统，包括hub和多个上述的flash测试治具；

所述多个flash测试治具分别通过所述USB接口与所述hub连接。

本实用新型的有益效果在于：通过在flash测试治具中增设信号转换器以及USB接口，flash测试座、主控器、信号转换器以及USB接口依次连接，信号转换器实现PCIE信号与USB信号之间的相互转换；flash测试治具可以通过USB接口与PC端连接，信号转换器将主控器发送的PCIE信号转换为USB信号发送给PC端，将从USB接口接收的来自PC端的USB信号转换为PCIE信号给主控端以实现对flash测试治具中的flash进行操作，使得对flash的测试可以通过USB接口直接实现，而USB接口支持热拔插，在更换flash时不需要重启PC端，仅需对flash测试治具进行一次拔插就可以，并且也易于扩展，通过借助外接设备即能够实现同时测试多个flash，降低了flash测试过程中额外的工作量，提高了测试效率。

附图说明

图1所示为本实用新型实施例的一种flash测试治具的结构示意图；