[实用新型]一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置

说明书

本实用新型公开了一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置，属于芯片电路测试技术领域，系统包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接。本实用新型通过转换单元实现控制单元与存储器单元之间的电平转换，进而使控制单元对存储器单元进行控制，实现了对存储器单元的故障分析，读写性能、稳定性、可靠性、极限写入次数及功耗测试，在保证准确率的基础上大大提高了工作效率高。

技术领域

本实用新型涉及电路测试技术领域，尤其涉及一种新型存储器单元芯片的测试系统及装置。

背景技术

储存器芯片作为承载信息的记忆部件，是新一代信息技术发展不可缺少的基础元器件，而EEPROM作为一种带电可擦可编程只读存储器，解决了信息录入无法修改的问题，EEPROM已经广泛应用到各个技术领域，如何准确快速、准确对储存器芯片进行性能测试是业内比较关注的问题。

EEPROM性能测试中需要解答的问题是芯片IP(半成品)是否可量产。性能测试需要收集大量数据，因为EEPROM IP的关键参数需要在不同的工艺、电压和温度环境下进行测试，进而确定有效的裕量，设定初步生产测试限值。目前，对EEPROM进行性能测试，是在EEPROM各个工艺阶段分别测试EEPROM的高低温特性、极限写入次数、模拟老化性能测试、读写功耗测试、每个内存单元的单独读取和写入控制，及内存单元之间可能存在的相互影响。由上述内容不难得知，EEPROM性能测试工作十分繁琐、工作量大。

实用新型内容

本实用新型的目的在于克服现有技术测试存储器芯片效率低的问题，提供一种新型存储器单元芯片的测试系统。

本实用新型的目的是通过以下技术方案来实现的：一种新型存储器单元芯片的测试系统，系统具体包括控制单元、转换单元和存储器单元，所述控制单元输出端与所述转换单元连接，所述转换单元输出端与所述存储器单元连接。

具体地，所述控制单元经第一I/O端口引出模块与所述转换单元连接，所述转换单元经第二I/O端口引出模块与所述存储器单元连接。

具体地，所述控制单元具体为STM32单片机。

具体地，所述存储器单元具体为EEPROM存储器芯片。

具体地，所述转换单元具体为电平转换电路，用于将存储器单元的通信电平信号转换为STM32单片机可识别的逻辑电平信号。

具体地，所述转换单元的个数不大于16个；所述存储器单元的个数不大于16个。

具体地，所述系统还包括电源电路单元，用于为所述新型存储器单元芯片的测试系统供电。

具体地，所述电源电路单元包括第一电路模块、第二电路模块、第三电路模块和第四电路模块；所述第二电路模块、第三电路模块和第四电路模块为电压可调模块。

具体地，所述第一电路模块输出端与所述控制单元连接，第二电路模块输出端、第三电路模块输出端与所述转换单元连接，所述第三电路模块输出端与所述第二I/O端口引出模块连接，所述第四电路模块输出端与所述存储器单元连接。

本实用新型还包括一种装置，该装置包括上述新型存储器单元芯片的测试系统和PC机，所述PC机经通信串口与所述系统的控制单元双向连接。

与现有技术相比，本实用新型有益效果是：

本实用新型通过转换单元实现控制单元与存储器单元之间的电平转换，进而使控制单元对存储器单元进行控制，实现了对存储器单元的故障分析，读写性能、稳定性、可靠性、极限写入次数及功耗测试、以及每个存储器单元的单独读取和写入控制，测试可靠性高且大大减低了测试工作量。本实用新型I/O端口引出模块用于引出控制单元、存储器单元的I/O引脚，快速定位进行测试的引脚，大大提高了工作效率。

附图说明