[实用新型]一种芯片条多通道并发测试双测试台机构

说明书

本实用新型公开了一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板，所述安装底板一侧设有窗口，且安装底板一侧设有侧面盖板，所述安装底板内侧设有平台骨架，所述安装底板顶部的中部固定连接有电性能测试机。本实用新型，通过设计两个测试平台配合一个电性能测试机的设计，来双倍提高芯片条供料速度，保证电性能测试机测试板上面保持有芯片条在上面测试。从而避免单个测试平台在来回运转取送料的过程时，电性能测试机处于空闲等待状态，而影响整机测试速度。同时测试平台X轴和旋转轴都采用直驱线性马达达到次微米级精度，上下Z轴导向采用预压零间隙带衬套线性轴承，确保测试平台长久运行重复精度满足测试需求，无需定期校准。

技术领域

本实用新型涉及电子元件检测领域，尤其涉及一种芯片条多通道并发测试双测试台机构。

背景技术

市场现有技术采用四轴单个测试台和一个电性能测试机配合的方式来测试芯片。但受限于测试台运行速度以及设备整体尺寸，测试供料速度遇到瓶颈，导致整体测试速度不能进一步提高。测试台机构的重复定位精度不高，运行久了后，发生位置偏移，芯片的被测试引脚不能精准的接触到电性能测试机的弹簧探针。从而导致弹簧探针损坏，产品良率低下，产品线需停机来重新调教芯片引脚和弹簧探针对位，非常影响生产。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了解决现有技术中存在的缺点，而提出的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构。

为了实现上述目的，本实用新型采用了如下技术方案：

一种芯片条多通道并发测试双测试台机构，包括安装底板，所述安装底板一侧设有窗口，且安装底板一侧设有侧面盖板，所述安装底板内侧设有平台骨架，所述安装底板顶部的中部固定连接有电性能测试机，所述安装底板内腔设有第一测试台和第二测试台，所述安装底板底部的中部设有升降顶起机构，所述第一测试台顶部设有R轴直驱马达，所述第一测试台一侧底部设有Y轴丝杆，所述第二测试台一端底部设有轴承。

进一步的，所述电性能测试机底部的中部设有弹簧探针，且弹簧探针与升降顶起机构的顶部相对应。

进一步的，所述第一测试台和第二测试台的功能和结构相同。

进一步的，所述所述安装底板内侧底部设有X轴直驱直线电机，且X轴直驱直线电机共设有两排。

进一步的，所述轴承为Z轴预压零间隙带衬套线性轴承。

本实用新型的有益效果为：

本实用新型，通过设计两个测试平台配合一个电性能测试机的设计，来双倍提高芯片条供料速度，保证电性能测试机测试板上面保持有芯片条在上面测试。从而避免单个测试平台在来回运转取送料的过程时，电性能测试机处于空闲等待状态，而影响整机测试速度。同时测试平台X轴和旋转轴都采用直驱线性马达达到次微米级精度，上下Z轴导向采用预压零间隙带衬套线性轴承，确保测试平台长久运行重复精度满足测试需求，无需定期校准。

相比较现有设备而言，该装置技术能使芯片条测试供料速度与现有技术相比翻倍。同时能保证测试平台长久运行时，不会发生位置偏移导致探针受损，也能避免产品测试良率降低而引起的再校准甚至停产维修问题。

附图说明

图1为提出的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构的安装底板立体的结构示意图；

图2为提出的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构的第一测试台、第二测试台和电性能测试机的结构立体示意图；

图3为提出的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构的弹簧探针和升降顶起机构立体结构示意图；

图4为提出的一种芯片条多通道并发测试双测试台机构的第一测试台和第二测试台立体结构示意图。