[实用新型]一种扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置有效

专利信息
申请号: 201922407798.2 申请日: 2019-12-27
公开(公告)号: CN211478116U 公开(公告)日: 2020-09-11
发明(设计)人: 杨佳明;韩文彬;王暄 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: G01N23/2202 分类号: G01N23/2202
代理公司: 哈尔滨市松花江专利商标事务所 23109 代理人: 岳泉清
地址: 150080 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要:
搜索关键词: 一种 扫描 电子显微镜 观测 聚合物 片状 样品 低温 装置
【说明书】:

一种扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置,涉及一种低温脆断装置。目的是解决扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品的断面不平整的问题。装置由两个半基座、连接板、耐低温拉弹簧和样品夹板构成;半基座由基板、端板、第一侧板和第二侧板构成;基板端部设置有端板,样品夹板固接有圆柱,圆柱设置在端板中第二凸块的竖向的通孔内,连接板的两端分别与两个第一侧板铰连接,底板中部设置有条形开口,底板设置在两个样品夹板之间。脆断装置处理得到的样品的断面平整,因此用于扫描电镜观察时能够得到清晰的图像,并且图像的细节丰富,样品的断面平整还能够避免物镜碰触样品导致镜头损坏的发生。本实用新型适用于聚合物片状样品低温脆断。

技术领域

本实用新型涉及一种低温脆断装置。

背景技术

在应用扫描电子显微镜观测聚合物样品的内部结构、缺陷及填充相分散状态时,必须获取样品断面,通过观测断面来获得观测信息。如果采用刀具将样品切断来获取断面,刀具表面附着的杂质会污染样品,切断过程中产生的较大应力还会破坏材料的原有结构。因此,最常见的方式是用冲击应力将样品直接破坏,形成断面。但由于聚合物材料的玻璃化转变温度通常低于室温,绝大部分材料在室温时往往具有较强的韧性,因此需用液氮将待测材料冷却至玻璃化转变温度以下,再用冲击应力将样品破坏。

在实际操作时,通常是将事先剪裁得到的片状样品放置于液氮中,在浸泡一段时间后,将样品取出并固定住样品的两端,迅速向垂直于样品长度方向施加一冲击力,将样品脆断。这种方式遇到的普遍问题是断面不平整,断面不平整的原因是人工操作的击应力较小,同时用力的方向有偏差,用力不均匀。这样不平整的断面在扫描电镜观察时会出现诸多问题,例如,为了避免物镜碰触样品导致镜头损坏,因此只能设定较大的物距,这样会造成图像的分辨率低;在成像过程中,断面不平整还会使焦平面以外的形貌信息模糊,严重影响图片的质量。

实用新型内容

本实用新型为了解决现有方法得到的扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品的断面不平整的问题,提出一种扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置。

本实用新型扫描电子显微镜观测用聚合物片状样品低温脆断装置两个半基座、连接板、耐低温拉弹簧和样品夹板构成;

所述半基座由基板、端板、第一侧板和第二侧板构成;基板为矩形板,基板的一个侧边上设置有第一侧板和第二侧板,第二侧板低于第一侧板,第一侧板一侧的基板端部设置有端板,端板外侧垂直固接有第二凸块,第二凸块上设置有竖向的通孔;样品夹板为矩形板,样品夹板的一侧垂直固接有圆柱,圆柱的自由端设置有垂直圆柱的销孔,圆柱设置在第二凸块的竖向通孔内,第二凸块上部的圆柱外部套设有压缩态的耐低温压弹簧,圆柱自由端的销孔内设置有开口销,耐低温压弹簧上端和开口销之间设置有平垫圈;

两个半基座中第二侧板端部相对设置,连接板的两端分别与两个第一侧板铰连接,处于拉伸状态的耐低温拉弹簧设置在连接板上方,处于拉伸状态的耐低温拉弹簧两端分别与两个端板的内表面固接;固定销为U形销,固定销的两个销杆分别设置在两个第二侧板上的销孔内;

所述底板为矩形板,底板中部设置有平行底板中短边的条形开口,底板设置在两个样品夹板之间,条形开口与两个半基座的第二侧板的端部缝隙对应设置;

本实用新型原理及有益效果为:

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