[实用新型]一种集成电路检测装置

说明书

本实用新型提供一种集成电路检测装置，涉及检测装置技术领域。该集成电路检测装置，包括底座、底部检测装置、顶部检测装置和支撑架，所述底座的顶部固定连接有底部检测装置，所述支撑架的底部固定连接在底座的顶部，所述顶部检测装置的底部固定连接在支撑架的顶部。该集成电路检测装置，通过第一检测底座与第二检测底座底部的第一活动块以及第二活动块来进行一定规律的震动来模拟现实工作中集成电路的使用情况，通过第一检测头和第一检测底座中的第一检测针和第二检测针来对集成电路上的每个接口进行检测，使我们可以清楚的知道集成电路每个接口在工作中的实际情况，通时通过温度检测器来对集成电路进行实时的温度检测，使检测结果效果更好。

技术领域

本实用新型涉及检测装置技术领域，具体为一种集成电路检测装置。

背景技术

集成电路是新型半导体器件。它是经过氧化、光刻、扩散、外延、蒸铝等半导体制造工艺，把构成具有一定功能的电路所需的半导体、电阻、电容等元件及它们之间的连接导线全部集成在一小块硅片上，然后焊接封装在一个管壳内的电子器件。其封装外壳有圆壳式、扁平式或双列直插式等多种形式。集成电路技术包括芯片制造技术与设计技术，主要体现在加工设备，加工工艺，封装测试，批量生产及设计创新的能力上。

由于很多集成电路设置有接口，在传统的测试中，均需要人工进行测试，人工测试效率低，无法达到工业化生产的要求。在现有的技术中，无法检测出集成电路在工作中所能出现的问题仅仅只是检测该集成电路能否进行工作，往往该集成电路在工作中会出现很大问题。

实用新型内容

（一）解决的技术问题

针对现有技术的不足，本实用新型试图克服以上缺陷，因此本实用新型提供了一种集成电路检测装置，以达到了模拟工作环境进行检测以及检测出集成电路具体在那一块出现问题的效果。

（二）技术方案

为实现以上目的，本实用新型通过以下技术方案予以实现：一种集成电路检测装置，包括底座、底部检测装置、顶部检测装置和支撑架，所述底座的顶部固定连接有底部检测装置，所述支撑架的底部固定连接在底座的顶部，所述顶部检测装置的底部固定连接在支撑架的顶部。

所述底部检测装置的内部包括第一连接板、第一活动块、第一检测底座、传送装置、第二滑槽、第二连接板、第二活动块、第二检测底座、固定块、加热装置和控制器，所述第一连接板的顶部活动连接有第一活动块，所述第一检测底座的底部活动连接有第一活动块的顶部，所述传送装置的顶部活动连接在第一连接板的底部，所述第二滑槽开设在传送装置的两侧，所述第二连接板的底部活动连接在传送装置的顶部，所述第二活动块的底部活动连接在第二连接板的顶部，所述第二检测底座的底部活动连接在第二活动块的顶部，所述固定块的底部固定连接在传送装置的右侧顶部，所述加热装置固定连接在底部检测装置的内壁，所述控制器的左端固定连接在底部检测装置的右端。

所述顶部检测装置的内部包括第一滑槽、第一连接块、第一液压装置、第一检测头、第二连接块、第二液压装置和第二检测头，所述第一滑槽开设在顶部检测装置的底部，所述第一连接块的顶部活动连接在第一滑槽的内部，所述第一液压装置的顶部固定连接在第一连接块的底部，所述第一检测头的顶部固定连接在第一液压装置的底部，所述第二连接块的顶部活动连接在第一滑槽的内部，所述第二液压装置的顶部固定连接在第二连接块的底部，所述第二检测头的顶部固定连接在第二液压装置的底部。

进一步，所述第一检测头的内部包括温度检测器和第二检测针，所述温度检测器的顶部固定连接在第一检测头的底部，所述第二检测针的顶部固定连接在第一检测头的底部。

进一步，所述第一连接板的内部包括第一滑块和第二滑块，所述第一滑块固定连接在第一连接板的内部左侧，所述第二滑块固定连接在第一连接板的内部右侧。