[实用新型]一种检测治具有效

专利信息
申请号: 201922439326.5 申请日: 2019-12-30
公开(公告)号: CN211576016U 公开(公告)日: 2020-09-25
发明(设计)人: 吴鹏;薛磊 申请(专利权)人: 沪士电子股份有限公司
主分类号: G01B5/00 分类号: G01B5/00;G01B5/18
代理公司: 南京纵横知识产权代理有限公司 32224 代理人: 俞翠华
地址: 215300 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 检测
【说明书】:

本实用新型公开了一种检测治具,包括底座,所述底座上设有若干个通孔对和若干个卡槽对;各通孔对中包括第一通孔和第二通孔,所述第一通孔和第二通孔的横截面形状相同,所述第一通孔和第二通孔的横截面尺寸不同;各卡槽对中包括第一卡槽和第二卡槽,二者均沿着底座的厚度方向设置;所述第一卡槽和第二卡槽的横截面形状相同,所述第一卡槽和第二卡槽的深度不同,且二者的深度均小于待检测引脚的总长度;所述底座的厚度大于待检测引脚总长度的40%‑50%。本实用新型能够快速筛选出弯曲以及尺寸超规格的引脚,保证重复使用以及植引脚质量,降低了报废,而且操作方便、节约人力。

技术领域

本实用新型属于治具技术领域,具体涉及一种检测治具。

背景技术

在通信行业高速发展的背景下,PCB板层间对位精度的要求越来越高,层间对位作为 PCB内转外工艺的关键品质项目,受到越来越多的关注,对位能力不仅仅对企业的接单以及报废成本产生重大影响外,其带来的其它附加影响,如对高频插损的干扰也随着高层次 PCB的导入逐渐变得越来越引人关注。

目前除了设备升级进行能力提升外,对治工具和作业方式的细致化管理也变得越来越重要。针对定位引脚的检验,之前检测只能靠人员抽检进行,而且无法识别到轻微的定位引脚针变形弯曲,容易漏失,这种漏失引脚的使用会影响产品的层间对位;而且植引脚时因为无法观测Busher内的状况,植引脚的质量无法保障,过程中品质的不确定性,同样会影响到产品的最终对位品质。

实用新型内容

针对上述问题,本实用新型提出一种检测治具,能够快速筛选出弯曲以及尺寸超规格的引脚,保证重复使用以及植引脚质量,降低了报废,而且操作方便、节约人力。

为了实现上述技术目的,达到上述技术效果,本实用新型通过以下技术方案实现:

一种检测治具,包括底座,所述底座上设有若干个通孔对和若干个卡槽对;

各通孔对中包括第一通孔和第二通孔,所述第一通孔和第二通孔的横截面形状相同,所述第一通孔和第二通孔的横截面尺寸不同;

各卡槽对中包括第一卡槽和第二卡槽,二者均沿着底座的厚度方向设置;所述第一卡槽和第二卡槽的横截面形状相同,所述第一卡槽和第二卡槽的深度不同,且二者的深度均小于待检测引脚的总长度;

所述底座的厚度大于待检测引脚总长度的40%-50%。

作为本实用新型的进一步改进,所述第一通孔与第二通孔的横截面尺寸之差等于2倍设计公差。

作为本实用新型的进一步改进,所述第一卡槽的深度等于待测试引脚总长度的98%;所述第二卡槽的深度等于待测试引脚总长度的90%。

作为本实用新型的进一步改进,所述底座由不锈钢材料制成。

作为本实用新型的进一步改进,所述检测治具包括两组通孔对,其中一组通孔对中的第一通孔和第二通孔的横截面形状均为圆形,另一组通孔对中的第一通孔和第二通孔的横截面形状均为矩形。

作为本实用新型的进一步改进,所述检测治具包括两组卡槽对,其中一组卡槽对中的第一卡槽和第二卡槽的横截面形状尺寸大于另一组卡槽对中的第一卡槽和第二卡槽的横截面形状尺寸。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果:

本实用新型提出一种检测治具,能够快速筛选出弯曲以及尺寸超规格的引脚,保证重复使用以及植引脚质量,降低了报废,而且操作方便、节约人力。

附图说明

为了使本发明的内容更容易被清楚地理解,下面根据具体实施例并结合附图,对本发明作进一步详细的说明,其中:

图1为本实用新型一种实施例的检测治具的结构示意图;

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