[实用新型]DDR测试主板和DDR测试平台

说明书

本实用新型公开了一种DDR测试主板和DDR测试平台，其中DDR测试主板包括并联设置的多个测试模块；测试模块包括控制单元、指示单元、按钮单元和接口单元；接口单元，用于连接待测试的DDR芯片；按钮单元，用于接收上电操作；控制单元，与外部电源相连接，用于接收外部电源传输的供电电源，并在接收到上电操作时，导通与DDR芯片的连接，对DDR芯片进行测试，发送指示指令给指示单元；指示单元，用于根据指示指令指示不同的测试结果。通过本实用新型的DDR测试主板，测试人员不但可以同时对多个DDR芯片进行测试，而且能够通过指示灯直观快速地获知测试结果。因此，本实用新型相比现有技术大大提高了测试效率。

技术领域

本实用新型涉及芯片测试领域，具体涉及一种DDR测试主板和DDR测试平台。

背景技术

DDR(Low Power Double Data Rate SDRAM)，是DDR SDRAM的一种，以低功耗和小体积著称，专门用于移动式电子产品。

目前，DDR测试设备一般包括底座、设置于底座上的测试组件和固定于底座一侧的屏幕，其中测试组件包括手机主板、测试按钮和芯片插座。检测时，通过手动按下不同测试按钮测试芯片的各项功能，观察屏幕上是否显示正确的操作反馈，来获得测试结果。

利用该测试设备的测试人员在每个测试过程中都需要阅读屏幕上所显示的操作反馈信息，因此单次只能完成一个DDR芯片的功能测试，而很难兼顾不同DDR芯片的测试过程，因此存在测试效率低下的问题。

实用新型内容

本实用新型的主要目的是提出一种DDR测试主板，旨在解决现有技术中 DDR测试设备需要测试人员通过屏幕观察测试结果，令测试人员单次只能对一个DDR芯片进行测试而造成的效率低下的问题。

为实现上述目的，本实用新型提出一种DDR测试主板，包括并联设置的多个测试模块；所述测试模块包括控制单元以及与所述控制单元电连接的指示单元、按钮单元和接口单元；

所述接口单元，用于连接待测试的DDR芯片；

所述按钮单元，用于接收上电操作；

所述控制单元，与外部电源相连接，用于接收所述外部电源传输的供电电源，并在接收到所述上电操作时，导通与所述DDR芯片的连接，对所述DDR 芯片进行测试，发送指示指令给所述指示单元；

所述指示单元，用于根据所述指示指令指示不同的测试结果。

进一步地，所述控制单元包括主控子单元以及与所述主控子单元电连接的电源管理子单元和晶振；

所述电源管理子单元的第一输入端与所述外部电源的第一输出端连接，所述电源管理子单元的第一输入端与所述外部电源的第二输出端连接；

所述按钮单元与所述主控子单元电连接；

所述指示单元与所述电源管理子单元电连接。

进一步地，所述测试模块还包括开关单元；

所述开关单元的第一输入端与所述外部电源的第一输出端连接，所述开关单元的第二输入端与所述外部电源的第二输出端连接；所述开关单元的第一输出端与所述控制单元的第一输入端连接，所述开关单元的第二输出端与所述外部电源的第二输入端连接；

所述开关单元，包括电源开关，用于接收通断操作，根据所述通断操作导通所述控制单元和所述外部电源的导通或断开。

进一步地，所述开关单元还包括电源指示灯；

所述电源指示灯用于指示所述控制单元和所述外部电源的导通或断开。

进一步地，所述测试模块还包括延时单元；