[实用新型]一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置有效

专利信息
申请号: 201922470822.7 申请日: 2019-12-31
公开(公告)号: CN211488989U 公开(公告)日: 2020-09-15
发明(设计)人: 朱袁正;占四兵;朱久桃;王效勇 申请(专利权)人: 无锡电基集成科技有限公司
主分类号: B08B15/02 分类号: B08B15/02;B23K26/16;B23K26/362
代理公司: 无锡市汇诚永信专利代理事务所(普通合伙) 32260 代理人: 朱晓林
地址: 214000 江苏省无*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 半导体 测试 分选 激光 粉尘 收集 装置
【权利要求书】:

1.一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:包括吸尘组件和集尘组件;

所述吸尘组件包括吸尘腔体及其支架,所述吸尘腔体右侧面下部设有真空接口,顶面上设有开口,底面上设有吸尘口,所述开口上设有透明密封盖且开口的纵向中心线与吸尘口的纵向中心线位于同一直线上,所述吸尘腔体内设有吸尘管路和真空管路,所述吸尘管路的底端与吸尘口连通,中部与真空管路的左端连通,上端延伸至吸尘腔体内部上部,所述真空接口的一端与真空管路的右端连通;

所述集尘组件包括相匹配的盖板和箱体,所述盖板与箱体的接合面上设有密封结构,所述盖板与箱体通过锁紧结构锁紧,所述箱体的左侧面上设有进气口,右侧面上设有出气口,所述进气口通过软管与真空接口的另一端相连,所述出气口与工厂真空动力管路相连,所述箱体内部位于进气口与出气口之间的相对的两个侧面上设有相对的插槽,所述插槽用于镶嵌初效过滤器,所述初效过滤器顶部抵接在盖板上,底部抵接在箱体底部。

2.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述支架的高度可调且与吸尘腔体的连接角度可调。

3.根据权利要求2所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述支架包括水平底板、伸缩连接杆、角度调节板和水平连接板,所述伸缩连接杆竖直设置且固定部安装于水平底板上,所述角度调节板竖直设置,上部开设有安装孔,下部开设有弧形滑槽,顶部固定于水平连接板底面上,所述伸缩连接杆的伸缩部顶部抵接在水平连接板的底面上且伸缩部自上而下设有第一固定孔和第二固定孔,所述第一固定孔与安装孔相匹配,所述第二固定孔与弧形滑槽相匹配,通过第一螺栓与第一固定孔、安装孔相配合,第二螺栓与第二固定孔、弧形滑槽相配合,实现伸缩连接杆与角度调节板的连接和连接角度调整,所述水平连接板的顶部与吸尘腔体的底部连接。

4.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述开口的面积≤吸尘腔体顶面面积。

5.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述吸尘口上匹配有用于调节吸尘口大小的挡板,所述挡板中部开孔,四周与吸尘口密封连接。

6.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述吸尘腔体顶面为从左向右倾斜的斜面,相应地设有吸尘口的吸尘腔体底面处为斜面。

7.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述吸尘腔体的左侧面上部设有用于清洁透明密封盖的吹气除尘口,所述吹气除尘口通过管路与气源相连,所述管路上设置有电磁阀。

8.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述密封结构为密封垫圈。

9.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述锁紧结构包括相匹配的卡槽和插片,所述卡槽设于箱体相对的两个外侧面上,相应地所述插片设于盖板相对的两个外侧面上。

10.根据权利要求1所述的一种用于半导体测试分选机的激光打标粉尘收集装置,其特征在于:所述进气口有多个,相应地所述吸尘组件有多个。

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