[实用新型]一种芯片引脚共面性检测装置

权利要求书

1.一种芯片引脚共面性检测装置，包括机架，所述机架上设有工作台，所述工作台上设有检测机构，其特征在于，还包括：

料盘，所述料盘用于放置芯片，所述料盘设于所述工作台上；

料盘定位机构，所述料盘定位机构设于所述料盘的周边，用于定位所述料盘的侧面；

芯片搬运机构，所述芯片搬运机构设于所述料盘的上方，包括XYZ移动组件和取放组件，所述取放组件与所述XYZ移动组件连接，所述XYZ移动组件用于带动所述取放组件将所述芯片放置于所述料盘内。

2.根据权利要求1所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于，所述XYZ移动组件包括前后平移组件、左右平移组件和上下平移组件，所述前后平移组件的固定端设于所述机架上，所述前后平移组件的移动端与所述左右平移组件的固定端连接，所述左右平移组件的移动端与所述上下平移组件的固定端连接，所述上下平移组件的移动端与所述取放组件连接。

3.根据权利要求2所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述取放组件包括吸盘、空心转轴和回转式快换接头，所述空心转轴安装于所述上下平移组件的移动端，所述空心转轴沿轴向中空，所述空心转轴的下端与所述吸盘连接，所述空心转轴的上端与所述回转式快换接头连接。

4.根据权利要求3所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述空心转轴能够在所述上下平移组件的移动端上转动，所述芯片搬运机构还包括芯片位置调整组件，所述芯片位置调整组件包括电机和传动结构，所述传动结构用于将所述电机的转动转换为所述空心转轴的转动。

5.根据权利要求1所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述料盘呈长方形，所述料盘定位机构包括第一定位组件、第二定位组件和第三定位组件，所述第一定位组件包括L型定位块，所述L型定位块安装在所述工作台上，且用于定位所述料盘的第一侧面和第二侧面，所述第二定位组件设于所述第一定位组件的一侧，用于定位所述料盘的第二侧面和第三侧面，所述第三侧面与所述第一侧面为相对的侧面，所述第三定位组件设于所述工作台上，用于定位第四侧面。

6.根据权利要求5所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述第二定位组件包括底架、压杆和弹性件，所述底架包括底板和垂直连接于所述底板两端的竖直板，所述压杆呈L型，所述压杆的一端穿过所述竖直板，所述压杆的另一端设有阶梯形的定位面，所述弹性件套设于所述压杆上，所述弹性件的一端与所述竖直板连接，所述弹性件的另一端与所述压杆连接。

7.根据权利要求6所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述压杆远离所述定位面的一端设有垂直于所述工作台的把手。

8.根据权利要求5所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述第三定位组件包括安装套和连杆，所述安装套设于所述工作台上，所述安装套上设有连接孔，所述连接孔的轴线与所述第四侧面垂直，所述连杆的一端穿过所述连接孔，所述连杆的一端设有磁铁，所述连杆的另一端设有操作球，所述操作球的外形尺寸大于所述连接孔的孔径。

9.根据权利要求4所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述传动结构为带传动结构，包括主动带轮、从动带轮和传动带，所述主动带轮与所述电机的电机轴连接，所述空心转轴与所述从动带轮的中心孔连接，所述传动带用于连接所述主动带轮和从动带轮。

10.根据权利要求9所述的芯片引脚共面性检测装置，其特征在于：所述上下平移组件上设有垫块和带座轴承座，所述空心转轴的下端依次穿过所述从动带轮和垫块与所述吸盘连接，所述回转式快换接头的回转部穿过所述带座轴承座。