[实用新型]一种磁光性能研究用测试装置

权利要求书

1.一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：包括间隔设置的第一电极机构和第二电极机构，第一电极机构和第二电极机构之间具有形成磁场的容纳空间，在该容纳空间内设置有测试组合机构；测试组合机构包括测试基座，测试基座上具有耦合光纤探头、反射镜和非球面镜，耦合光纤探头、反射镜和非球面镜呈品字形布置，并且形成由耦合光纤探头引出经反射镜反射后到达非球面镜的光路，在非球面镜的外侧位于光路射出侧设置有承载样品的样品托。

2.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：第一电极机构具有电极底座，电极底座上设置有水平调节机构，水平调节机构上设置有磁场电极，第二电极机构与第一电极机构对称设置。

3.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：测试基座可旋转的固定在第一电极机构和第二电极机构之间。

4.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：还包括装置基座，第一电极机构、第二电极机构和测试组合机构均设置于装置基座上。

5.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：测试基座包括固定基座和转动基座，固定基座固定于第一电极机构和第二电极机构之间，转动基座可转动地设置于固定基座上，耦合光纤探头、反射镜和非球面镜均位于转动基座上。

6.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：测试基座设置有耦合支架、反射支架和透射支架，耦合光纤探头、反射镜和非球面镜分别设置于耦合支架、反射支架和透射支架上，耦合支架、反射支架和透射支架呈品字形布置。

7.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：透射支架上设置样品架，样品架上设置样品托。

8.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：耦合光纤探头连接有光纤组。

9.根据权利要求1所述的一种磁光性能研究用测试装置，其特征在于：测试基座配合设置确定角度的刻度结构。