[实用新型]一种电容内爆检测电路

说明书

本实用新型属于检测电路技术领域，尤其涉及一种电容内爆检测电路，包括电流采集电路，所述电流采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息；电压采集电路，所述电压采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息；主控电路，所述主控电路与所述电流采集电路和所述电压采集电路连接，用于根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆。本实用新型在对电容进行内爆时，通过检测流经被测电容的电压和电流来综合判断被测电容是否发生内爆，保证了测量的准确性，降低了生产成本。

技术领域

本实用新型属于检测电路技术领域，尤其涉及一种电容内爆检测电路。

背景技术

电解电容出厂前需要经历生产和老化测试。其中，生产时，电解电容难免会出现铝箔切边不整齐产生毛刺、电解质有杂质等缺陷，电解电容上有毛刺及电解质有杂质的位置的耐压值远低于正常值。

在老化测试时，需要在被测电容两端施加充电电压，随着充电电压不断提高，有缺陷的电容极易发生内爆，发生内爆时被测电容两端的电压急剧下降，电流急剧上升。内爆结束后，被测电容继续充电，在后续的老化过程中，已发生内爆的电容大概率又因继续充电而使其伏安特性显示为正常电容，从而使发生内爆的电容极易流入市场，进而产生影响使用的问题。

目前，在老化测试中很难检测电容是否发生内爆，使用电容时，一般多采用万用表来测量，但是万用表测量的结果易受到干扰，导致测量结果不准确。此外，市面上还有专门的测试设备，但是仅仅只能针对某一特定内阻的电容进行测试，在对不同容值和内阻的电容进行测量时，极易发生测量不准确的问题，影响客户使用，并且通过专门设备测试电容内爆，易产生成本过高的问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种电容内爆检测电路，旨在解决现有技术中对电容进行内爆测量时，测量不准确的技术问题。

为实现上述目的，本实用新型实施例提供一种电容内爆检测电路，包括：

电流采集电路，所述电流采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电流信息；

电压采集电路，所述电压采集电路与被测电容连接，并用于采集流经被测电容的电压信息；

主控电路，所述主控电路与所述电流采集电路和所述电压采集电路连接，用于根据所述电流信息和所述电压信息判断被测电容是否发生内爆。

可选地，还包括通道开关电路，所述通道开关电路的输入端与所述电流采集电路连接，所述通道开关电路还与所述主控电路连接。

可选地，所述电流采集电路包括第一差分放大电路和第二差分放大电路，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输入端均与被测电容连接，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输出端均与所述通道开关电路的输入端连接；所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的放大系数不同。

可选地，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路均包括运算放大器，两所述运算放大器的输入端均与被测电容连接，两所述运算放大器的输出端均与所述通道开关电路连接。

可选地，所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路均包括输出滤波电路，所述输出滤波电路与所述第一差分放大电路和所述第二差分放大电路的输出端连接。

可选地，所述输出滤波电路包括滤波电容和滤波电阻，所述滤波电阻的一端与所述运算放大器的输出端连接，所述滤波电阻的另一端与所述滤波电容的一端连接，所述滤波电容的另一端接地。

可选地，所述通道开关电路包括模拟开关芯片，所述模拟开关芯片的第一引脚和第二引脚分别与两所述运算放大器的输出端连接，所述模拟开关芯片还与所述主控电路连接。

可选地，所述主控电路包括主控芯片，所述模拟开关芯片的第四引脚、第十五引脚、第九引脚和第十引脚均与所述主控芯片连接。