[实用新型]一种电路板性能测试治具及电路板性能测试系统

说明书

本实用新型公开了一种电路板性能测试治具及电路板性能测试系统，包括：主控箱，设置在所述主控箱内的控制模块，设置在所述主控箱上的启动开关、探针组件、升降机构、载物台以及多个外设；所述控制模块分别与所述启动开关和探针组件相连接，所述载物台位于所述探针组件上方并与所述探针组件弹性连接；所述载物台用于放置待测电路板，所述升降机构用于按压或松开所述载物台，所述探针组件在载物台被按压后与载物台上的待测电路板电连接并获取待测电路板的测试数据，所述控制模块接收所述测试数据并传输至多个外设上显示；本实用新型能够将电路板性能测试放到组装之前，在装配之前发现电路板问题及时解决，避免后续拆机的繁琐，提升生产效率。

技术领域

本实用新型涉及SMT贴片测试治具技术领域，特别涉及一种电路板性能测试治具及电路板性能测试系统。

背景技术

随着对电路板产品的良品率的要求越来越高，电路板加工完成检测作为最有效控制不良率的手段被各个电子企业所使用，通常对于企业电路板测试整机作为测试平台，即电路板加工完成装到产品进行测试和分析，把不良集中处理和分析。

现有技术中一般采用整机测试产品性能，基于整机测试方案的缺点在于：当整机本身或者组装不良时，往往需要多个环节一起分析，包括对电路板的分析测试，这样难免造成时间的浪费，测试的效率低下。

因而现有技术还有待改进和提高。

实用新型内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本实用新型的目的在于提供一种电路板性能测试治具，旨在克服现有技术中在整机测试时还需额外对电路板测试的缺陷。

为了达到上述目的，本实用新型采取了以下技术方案：

一种电路板性能测试治具，其中，包括：主控箱，设置在所述主控箱内的控制模块，设置在所述主控箱上的启动开关、探针组件、升降机构、载物台以及多个外设；所述控制模块分别与所述启动开关和探针组件相连接，所述载物台位于所述探针组件上方并与所述探针组件弹性连接；所述载物台用于放置待测电路板，所述升降机构用于按压或松开所述载物台，所述探针组件在载物台被按压后与载物台上的待测电路板电连接并获取待测电路板的测试数据，所述控制模块接收所述测试数据并传输至多个外设上显示。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，所述探针组件包括探针载台和设置在所述探针载台上的探针；所述载物台上设置有与所述探针形状一致的探针孔；所述探针的一端穿过所述探针载台与所述控制模块相连接，另一端用于在所述载物台被压下后穿过所述探针孔与所述载物台上的待测电路板电连接。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，所述升降机构包括：固定支架、设置在所述固定支架侧面的按压手柄、设置在所述按压手柄下方的压板；所述压板在面向所述载物台的面上设置有若干个用于与所述载物台相抵接的按压柱。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，还包括设置在所述固定支架上的行程开关；所述行程开关一端与所述压板相抵接，另一端与所述控制模块相连接。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，还包括设置在所述主控箱上的散热风扇，所述散热风扇与所述控制模块电连接。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，所述控制模块包括：相互连接的主控板、定时器和辅助电源；所述主控板用于接收所述探针的测试数据并将测试数据传输至所述多个外设，所述定时器用于设定测试时间，所述辅助电源用于给所述主控板和定时器供电。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，还包括设置在所述主控箱内的电源模块，所述电源模块分别与所述控制模块、散热风扇和多个外设电连接。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，所述多个外设包括：功率因数表、电压表或电流表。

进一步地，所述的电路板性能测试治具中，还包括设置在所述主控箱上的急停开关，所述急停开关与所述控制模块相连接。